专为ADC测试设计的测试机台，覆盖高速、低速，高精度ADC测试需求，支持LVDS和204B接口，满足大规模量产测试需求。
测试产品：高速ADC芯片/高精度ADC芯片
测试模式：1-site测试
模拟通道数：8路模拟通道
数字通道数：64路数字通道
最高采样率：最高3GHz
数据传输方式：LVDS/204B/SPI
通讯协议：SECS/GE
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X610 ADC 芯片测试机 |派格测控 (在产)
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专为ADC测试设计的测试机台，覆盖高速、低速，高精度ADC测试需求，支持LVDS和204B接口，满足大规模量产测试需求。
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通讯协议：SECS/GE
测试产品：高速ADC芯片/高精度ADC芯片 | 测试模式：1-site测试 |
模拟通道数：8路模拟通道 | 数字通道数：64路数字通道 |
最高采样率：最高3GHz | 数据传输方式：LVDS/204B/SPI |
通讯协议：SECS/GE |
测试项目
| OS | 漏流 | 电源电压 | 电流 |
| 功耗分辨率 | 积分非线性 | 微分非线性 | 转换噪声 |
| 转换时间 | 失调误差 | 增益误差 | 全功率带宽 |
| 信噪比 | 信纳比 | 有效位数 | 动态范围 |
| 无杂散动态范围 | 交调失真 | 总谐波失真 | 串扰 |
| 定时特性 |
关键词:
厂家联系方式：
185-1603-1327
pgsales@pgtec.cn / pgmarket@pgtec.cn
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