光仪表插卡式集成：各功能模块设计成插卡式，用户可根据实际需求灵活优化硬件配置。

软件平台化：软件高度封装，子功能模块可随意调用和组合，支持二次开发。

多通道并行测试：增加通道数量，实现并行测试，显著提升测试效率。

集成 TEC 温度控制系统：基于 TEC 的温控系统，支持模块在 - 40℃ ~ 90℃（或 - 10℃ ~ 85℃）进行温度循环测试。

● 光谱范围 600-1700nm，空间光耦合，单模或多模光纤输入；
● 波长分辨率：40pm；
● 功率测量范围：-85~+15dBm；
● 60dB 动态范围，能够有效分离相近的光谱信号；
● 功率测量范围大；
● 可定制各测量功能 APP；
● 支持以太网、USB 等数据通信；
● 体积尺寸（长 × 宽 × 高）：280×190×65（mm）。

312.5MHz/2.5pm 扫描分辨率

 动态范围超过50dB

C波段和L波段

超紧凑型 - 1HE半高19英寸机架堆叠

坚固耐用，无需校准

USB和以太网接口

SCPI风格的远程命令接口

提供直观的图形用户界面

外部触发接口

集成网络服务器

2赫兹扫描速率

● 光谱范围 600nm-1700nm，空间光耦合，适用于单模和多模光纤输入；
● 波长分辨率：40pm；
● 功率测量范围：-85~+15dBm；
● 60dB 动态范围，能够有效分离相近的光谱信号；
● WDM、EDFA、漂移、透过率 、光源等丰富的功能选择，满足各种应用；
● 体积小、可充电，待机时间超 3 小时，10.1 寸高清大屏，重量小于 3kg，便于现场应用；
● 配备校准光源，防止现场环境变化、振动、冲击等的影响；
● 体积尺寸（带护套，长 × 宽 × 高）：292×94.2×211（mm）。

●  覆盖S,C,C+L波段测试

●  最高可达160通道测试

●  DWDM通道间隔低至50GHz

●  符合ITU G.694.1 标准 (DWDM)

●  符合ITU G.694.2 标准 (CWDM)

●  波长精度：±50pm

●  动态范围>50dB

●  PLD<0.3dB

●  通道功率测试功能

●  通道阈值探测功能

●  带内OSNR测试

微型光谱分析仪基于紧凑封装的MEMS 可调滤波器和高精度光电控制及检测单元，在C 波段和O 波段实现优于传统光谱仪的波长分辨率和测量精度。内置USB 通信接口方便系统集成及二次开发。

• 超小封装尺寸
• 动态范围-70~+5dBm
• 波长分辨率10pm
• 峰值检测

光谱扫描范围：    600nm~1700nm  

最小光谱分辨率：  20pm

● 73dB大动态范围

● -90dBm最高灵敏度

● 支持空间光输入

● 内置光源输出配置可选

● 强大的多应用光谱数据分析功能

● 12.1英寸触控显示、全中文操作

● 光谱范围 600nm-1700nm，空间光耦合，适用于单模和多模光纤输入；
● 7 种波长分辨率设置 20pm~2nm，使用户可以根据测试需求选择最佳值；
● 低至 -90dBm 的灵敏度设置；
● 73dB 超大动态范围，能够有效分离相近的光谱信号，执行精确测量；
● ±0.02nm 高波长精度，内置校准功能和波长参考源；
● 高杂散光抑制率，单色镜设计可以提供出色的杂散光抑制能力；
● WDM、光源、EDFA 等丰富的功能选择，满足从现场到工厂的各种应用；
● 10.1 寸超大触屏操作，更好的客户体验；
● 齐全的用户数据接口，支持以太网、USB、GP-IB 等。

• 用户通常在光有源器件上的生产线中使用光接收器带宽广泛的动态范围和高速测量。

  • 边模抑制比测量值最低为 45 dB

  • 最大测量处理时间*1 为 0.35 秒（扫描 30 nm 波长）

• Facilitates Stable Production of High-output LDs

  • ±1.4 dB SMSR reproducibility*2

• 与前代产品相同的关键功能和性能，支持各种生产线环境

  • 用于评估所有光有源器件的宽频带(600 nm 到 1750 nm)

  • 9 个应用菜单，用于 LD 模块、WDM 等测量

● 光谱范围 600nm ~1700nm，空间光耦合，适用于单模和多模光纤输入；
● 最高分辨率小于 10pm；
● 低至 -85dBm 的灵敏度设置；
● 大于 80dB 超大动态范围，能够有效分离相近的光谱信号，执行精确测量；
● ±0.01nm 高波长精度，内置校准功能和波长参考源；
● WDM、光源、EDFA 等丰富的功能选择，满足从现场到工厂的各种应用；
● 10.1 寸超大触屏操作，更好的客户体验；
● 齐全的用户数据接口，支持以太网、USB 等。