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射频/微波/毫米波/太赫兹芯片测试,晶圆级芯片(CP)、前端模组(FEM)、系统级芯片(SoC)和系统级(SLT)产品测试
收录超过 21个产品、超过 4个厂家
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专为各种运算放大器研发的测试机台,具有大范围信号带宽支持和优秀的非线性测试能力,测试能力稳定,抗干扰性强。
测试产品:运放芯片
测试模式:1-site测试
测试稳定性:更稳定的测试能力和抗干扰性
非线性测试:优秀的非线性测试能力
带宽扩展:大范围信号带宽支持
通讯协议:SECS/GEM
Chroma 35806S奠基于35806基础,以35806机型的IoT/Tuner/GNSS应用,新增S Parameter/Noise Figure功能,可完整测试FEM/PA/Switch/LNA等零元件,
Chroma射频晶片测试仪35806是专为RF ATE测试而设计。
支持多类型、多站点测试的桌面式芯片测试机,采用6U标准机箱结构,可用于晶圆级芯片(CP)、前端模组(FEM)、系统级芯片(SoC)和系统级(SLT)产品的快速技术验证和小批量测试。
频率覆盖3GHz/8GHz/20 GHz可选
DC测试:V DS、I DS、V GS……
动态参数测试:Crs、Ciss、Coss……
S参数测试:S 11、S21、S22
射频功率测试:P in、P out、Gain
能效测试:E f f
线性度测试:IMD、PndB、TOI、谐波
矢量信号分析:A CLR、E VM、平坦度
噪声系数、负载牵引……
DC测试:快速 / 超高稳定度
射频输出功率可扩展
高速S 参数测量
DC 测量范围可扩展
多端口非理想负载校正
测量电压分辨率228 μV
专为毫米波芯片/模组测试研发的测试机台,支持前端链路自定义,具有超强的通用性和拓展性,保证高效产线测试。
测试产品:毫米波通讯芯片/频综组件/毫米波TR芯片/毫米波TR组件
RF端口数:支持定制端口数
频率范围:最高26.5GHz
信号输入/输出:43dBm/13dBm
高低温测试:支持程控温箱做高低温测试
专为RFFEM测试设计的旗舰机,覆盖所有射频前端测试需求,性能经过市场考验,拥有行业领先的测试速度和测试能力。
测试产品:射频前端芯片/射频前端模组
测试模式:1-site测试/2-site串测
RF端口数:最多64个RF端口
频率范围:最高9GHz
最大实时带宽:1GHz,2GHz(Optional)
谐波频率范围:最高25.5GHz
专为ADC测试设计的测试机台,覆盖高速、低速,高精度ADC测试需求,支持LVDS和204B接口,满足大规模量产测试需求。
测试产品:高速ADC芯片/高精度ADC芯片
模拟通道数:8路模拟通道
数字通道数:64路数字通道
最高采样率:最高3GHz
数据传输方式:LVDS/204B/SPI
通讯协议:SECS/GE
专为时钟芯片测试设计的旗舰机,支持高性能时钟芯片测试,性能经过市场考验,拥有行业领先的测试速度和测试能力。
测试产品:时钟缓冲器/频率合成器/锁相环
RF端口数:12/18/24/32个
频率范围:1MHz~26GHz
最大输入功率:15dBm
特点:低相噪,高精度,高速度
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