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    VLSI/SoC 测试系统

    面向集成电路晶圆测试与成品测试的自动测试系统（ATE），覆盖 VLSI 与 SoC／Analog 器件，支持数字、模拟与混合信号通道的并行测试与多工位并测。

     

    收录超过 6个产品、超过 1个厂家

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    3380 50/100MHz VLSI 测试系统 50/100 Mbps|致茂电子Chroma
    3380 50/100MHz VLSI 测试系统 50/100 Mbps|致茂电子Chroma

    为因应未来IC芯片脚位数更多、速率更高、整合功能更为复杂的发展驱势，Chroma以此发展方向提供新一代3380系列VLSI测试机台，包含 3380D、380P、3380机型，根据不同的脚位数或同测能力(Parallel Test)，提供需求与成本效益兼具的测试解决方案。



    厂家：致茂电子Chroma
    产地：中国台湾
    3650 时钟速率50/100MHz SoC/模拟测试系统 数据速率100/200Mbps|致茂电子Chroma
    3650 时钟速率50/100MHz SoC/模拟测试系统 数据速率100/200Mbps|致茂电子Chroma

    器件集成度与功能不断提高，资本设备必须能跨越多个器件世代与应用持续使用。



    厂家：致茂电子Chroma
    产地：中国台湾
    3650-S2 50 / 100MHz SoC/模拟测试系统 100 / 200 Mbps|致茂电子Chroma
    3650-S2 50 / 100MHz SoC/模拟测试系统 100 / 200 Mbps|致茂电子Chroma

    半导体制造为一发展迅速前进的产业。



    厂家：致茂电子Chroma
    产地：中国台湾
    3680 1Gbps先进SoC测试系统 2048 sites|致茂电子Chroma
    3680 1Gbps先进SoC测试系统 2048 sites|致茂电子Chroma

    半导体制造为一发展迅速前进的产业，必须高度集成越来越多的装置，同时又具备各种功能。



    厂家：致茂电子Chroma
    产地：中国台湾
    3380D 50/100 MHz VLSI 测试系统 50/100 Mbps|致茂电子Chroma
    3380D 50/100 MHz VLSI 测试系统 50/100 Mbps|致茂电子Chroma

    为因应未来IC芯片脚位数更多、速率更高、整合功能更为复杂的发展驱势，Chroma VLSI测试系统3380D/3380P/3380除采用更弹性架构外，整合密度更高，且功能更强大。



    厂家：致茂电子Chroma
    产地：中国台湾
    3380P 50/100 MHz VLSI 测试系统 50/100 Mbps|致茂电子Chroma
    3380P 50/100 MHz VLSI 测试系统 50/100 Mbps|致茂电子Chroma

    为因应未来IC芯片须具备更高速度及更多脚位及更复杂功能的IC芯片，Chroma新一代VLSI测试系统3380D/3380P/3380除采用更弹性架构外，整合密度更高且功能更强大。



    厂家：致茂电子Chroma
    产地：中国台湾
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