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确保高速功率输出，又满足高速下大动态范围的需求连续功率刷新频率最高可达10KHz（全量程）高速模式下支持自动换档采集测量每通道可以存储高达1000万个功率值支持连续触发、单次触发批量采集模式支持固定档位设置用户可配置的模拟输出高速模式下支持光功率探测范围：+10dBm~-70dBm支持850nm~1650nm波长范围内任意波长设置单模块可提供1、2或者4路光功率探测统
灵活可扩展高精确度与可靠性光源可复用集成系统化软件架构
RST回损扫描系统 |维度科技 (在产)
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系统与解决方案
RST回损扫描系统
灵活可扩展
高精确度与可靠性
光源可复用
集成系统化软件架构
RST 回损扫描系统
核心特点：灵活可扩展、高精确度与可靠性、光源可复用、集成系统化软件架构
系统描述
维度科技的波长扫描测试系统具备现代化的设计和技术优势，致力于满足复杂光通信网络的测量需求。当前，为确保 WDM 系统的性能和稳定性，传统检测方案（如光谱分析仪、光功率计、光时域反射计等）可提供光信号强度、波长、带宽等参数的精确信息，但存在成本高、操作复杂、灵活性差等缺点。该系统旨在解决这些问题，提供更优的测试方案。
主要优势
灵活可扩展，适应变化需求：可实时调整光源波长以适应多种测试需求；基于 FreeDesign 测试平台，允许用户根据需求定制测试系统配置（如增加偏振相关性质测试模块等）。
精确度与可靠性：结合先进光学技术和算法，提供超过 1pm 的波长分辨率和 ±5pm 的波长精度，确保测试结果高度可靠。
光源可复用：采用实时同步技术，减少对昂贵设备（如可调谐光源）的需求，实现多工位复用，经济高效。
集成系统化软件架构：提供全面评估，捕获各种 WDM 器件性能参数；集成软件作为系统核心，为操作员提供简单直观的控制接口。
主要产品
HOPM 高速功率计：具有批量采集和触发采集模式，最高提供 10KHz 高速连续采集，动态范围 + 10dBm~-70dBm，储存深度 1000 万个测量数据；模块化设计，通过 FreeDesign 测试平台可单机搭载至多 40 通道同时高速采集。
FreeDesign 智能仪器开发平台：适应模块化仪表发展趋势，支持至多 11 槽位，可适配维度科技全系模块化产品；内置高性能处理器作为系统中枢调度，支持所有模块同步触发，简化测试现场。
PPC 偏振控制器：支持六态偏振算法，高速计算器件偏振损耗，无需扫描整个邦加球出光功率；支持多种程序控制方式和网络通信接口，偏振消光比高，支持 C+L 波段。
回损测试模块：针对光模块端口和 WDM 器件回损测试需求，通过 WSS 软件系统快速生成回损扫描曲线，实现快速校准测试，提升效率。
关键词:
厂家联系方式：
Dimension Technology Co.,Ltd.
深圳市维度科技股份有限公司
深圳市南山区桃源街道福光社区留仙大道3370南山智园崇文园区2号楼603
电话：+86 0755-26480850
传真：+86 0755-26480895
客户服务：sales@dimension-tech.com
市场合作：marketing@dimension-tech.com
总部：深圳市维度科技股份有限公司
电话： +86 0755-26480850
地址： 深圳市南山区留仙大道3370号南山智园（三期）崇文园区2号楼6楼/3号楼10楼
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