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频率范围：3 MHz 至 6 GHz
阻抗：50 欧姆
板材厚度0.3至3毫米
数据库填充的介电常数为 25
适用于测试陶瓷（样品表面必须平坦）
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Epsilometer 3MHz 至 6 GHz介电材料测量系统|Copper Mountain (在产)
参考价格 ： $ 9,995.00 美元
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系统与解决方案
用于测量材料介电特性的 Epsilometer 解决方案可在 3 MHz 至 6 GHz的频率下测量介电基板材料 ，并可容纳 0.3 至 3 mm厚的片材样本。
Compass Technology的 John Schultz 博士表示，该解决方案采用了一种新方法，“与之前的介电分析技术不同，这种新方法使用计算电磁模型来反演介电常数和损耗。这比传统方法取得了重大进步，传统方法使用解析近似并且仅限于 1 GHz 以下的频率。”
Epsilometer 解决方案包括带有软件的R60 VNA 、测量夹具、Esilometer 软件和校准样本。
Epsilometer 可用于微波电路材料、天线天线罩、天线基板、无线设备（4G/LTE、WiFi、蓝牙、5G、物联网等）封装以及许多其他应用的设计和制造。
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南京舜特科通信技术有限公司
总机：025-52635773
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