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频率范围：50kHz至3/26.5/40GHz
偏置频率：0.01 Hz至160 MHz
相位噪声灵敏度：-200 dBc/Hz (with +23 dBm input signal)
测量功能：
Absolute or residual phase noise
n/a
CW or pulsed carrier
Low-level spurious signals
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优异的相位噪声分析仪和 VCO 测试仪，测量速度一流同时测量相位噪声和幅度噪声频率范围介于 1 MHz 至8/ 26.5/50 GHz噪声极低的内部直流源，便于自动进行 VCO 特性测量自动 SCPI 记录，完全兼容 R&S®FSWP
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N5511A 50kHz至3/26.5/40GHz 1/2通道相位噪声测试系统 偏置频率0.01 Hz至160 MHz|是德/KEYSIGHT (在产)
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系统与解决方案
相位噪声分析仪特点
专为相位噪声测试系统高级用户设计
Keysight N5511A 相位噪声测试系统（PNTS）的量程最低达到 kl（-177 dBm/Hz），让您可以执行物理极限测量。 N5511A PNTS 可替代经典的 Keysight E5500 相位噪声测量系统，满足高级用户的相位噪声测量需求。
专为高端市场中的高级用户而设计，帮助他们执行更精准的相位噪声测量
其灵活的体系结构方便用户集成卓越的参考资源（无论是用户自有的还是我们的都可以），并且充满信心地迅速应对具体挑战
现场可编程门阵列（FPGA）中的多段硬件互相关
使用相位检测器（正交）方法和交叉谱平均（互相关）方法测量绝对相位噪声和剩余相位噪声，灵敏度可以达到 kl 热相位本底噪声（-177 dBm/Hz）
相位噪声测试系统是一种更灵活的测量解决方案
N5511A 相位噪声测试模块化体系结构充分发挥独立仪器的优势，为相位噪声测量提供卓越的频偏范围、丰富的功能、出色的灵敏度和性价比。 它支持任意一种电子频率可调的参考信号源，因此当性能更高的新型信号发生器上市之后，您可以获得更好的性能
用于振荡器表征的直流电源:
否
最大频率:
40 GHz
测量功能:
Absolute or residual phase noise
n/a
CW or pulsed carrier
Low-level spurious signals
偏置频率范围:
0.01 Hz to 160 MHz. Wider offsets available using an external signal analyzer
相位噪声灵敏度:
-200 dBc/Hz (with +23 dBm input signal)
参考信号源:
外部
瞬时/射频瞬时测量:
否
绝对和残差相位噪声测量：
使用相位检测器（正交）方法测量绝对和残差相位噪声，支持单通道和双通道配置。
双通道配置允许使用交叉谱平均（互相关的）方法，以提高灵敏度，直至达到热相位噪声底限“kT”，即-177 dBm/Hz。
单端口和双端口设备测量：
能够测量单端口设备（如压控振荡器VCO、温差振荡器DRO、晶体振荡器、合成器等）和双端口设备（如放大器、频率转换器、频率分频器等）。
支持连续波（CW）、脉冲和杂散信号的测量。
噪声底限（灵敏度）：
噪声底限优于-200 dBc/Hz（在输入RF信号+23 dBm及以上时，使用互相关方法）。
射频载波上的AM噪声测量：
能够测量从50 kHz到40 GHz的射频载波上的AM噪声。
基带噪声测量：
基带噪声测量范围从0.01 Hz到160 MHz。
脉冲射频测量：
使用内置的内部或客户提供的外部脉冲重复频率（PRF）滤波器进行脉冲射频测量。
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