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800G四通道一体机(BT4856E-L)是一款集成误码仪、MCB板、TEC温控单元的误码综合测试系统,该一体机可同时对4个高速线缆模块或光模块进行误码测试,支持硬件FEC功能,每个通道均支持NRZ/PAM4信号下的多种速率,并有多种码型可选;支持MCB板和TEC模组快速更换,
光模块测试一体机包含集成测试板式误码仪以及配套升降温TEC系统,以实现超低成本,超多型号,超便捷的光模块三温性能测试,所集成的误码仪支持多速率NRZ/PAM4信号输出及接收,硬件FEC功能,7TAP预加重设置,接收端支持GAIN和CTLE设置等丰富功能。

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RS804T 57.8Gbaud 8通道三温误码仪 FEC分析|瑞索 (在产)

RS804T TEC三温误码率测试仪是集800G误码率测试仪、MCB板、TEC温控单元的误码测试系统,主要对光模块进行高温、常温、低温工况测试,由设备创造不同的温度环境,将模块温度升或降到设定值,对光模块进行误码等各项测试,检测光模块各项参……

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瑞索
RS804T 800G TEC三温误码率测试仪
RS804T TEC三温误码率测试仪是集800G误码率测试仪、MCB板、TEC温控单元的误码测试系统,主要对光模块进行高温、常温、低温工况测试,由设备创造不同的温度环境,将模块温度升或降到设定值,对光模块进行误码等各项测试,检测光模块各项参……
产品简介
RS804T TEC三温误码率测试仪是集800G误码率测试仪、MCB板、TEC温控单元的误码测试系统,主要对光模块进行高温、常温、低温工况测试,由设备创造不同的温度环境,将模块温度升或降到设定值,对光模块进行误码等各项测试,检测光模块各项参数是否正常。
核心特点
• 支持多种速率
• 支持NRZ/PAM4+FEC(KP4)模式
• 主机侧:8x115G PAM4
• 线路测:8x115G PAM4
• 内部参考时钟
• 内置时钟恢复功能
• 输出可配置预加重
• KP4 FEC分析
• 多同轴射频连接器
• 支持触发时钟
• 控温精度:±0.2℃(设备温度)
• 控温范围:-20℃~+80℃
• 功耗低
型号与主要参数
• 通道数:N
• 支持调制类型:NRZ,PAM4 差分
• 频率精度:±100/±50ppm
• 最大输出幅度- (差分):56GBaud时为 600mVp-p2600mVp-p@56GBaud(带高振幅选 项) Mv
• RMS 抖动:<450fs@56GBaud,<400fs@28GBaud(CH1~CH8)
• 上升时间(20% 至 80%):<10ps(CH1~CH8)
• 射频接口:33(1.85mm)
• 射频接口:1.82mmfemale,50Ω
功能与结构
工作原理
设备采用 TEC 实现对待测模块的升降温控制,由测试台和控制器两部分构成
支持码型
PRBS7/9/11/13/15/16/23/31
PRBS7Q/9Q/11Q/13Q/15Q/16Q/23Q/31Q、SSPRQ、JPO3A/JPO3B、线性测试模式、方波
用户自定义码型
信号质量
快速上升下降沿、低固有抖动
支持高摆幅输出、预加重,以及眼图高度独立调节
全面分析
TEC制冷制热部分采用分体式独立设计,可以拆卸更换或者维护
TEC制冷片支持AC快速连续升降温,超长的TEC寿命
支持硬件PCS层FEC编解码及纠错分析
支持信噪比测量以及接收机直方图监控
典型应用
• RS804T TEC是以研发、测试,生产,质量及工程全面通信人才设计对象,帮助他们验证芯片、器件、收发信机模块及子组件、电路板以及系统。这些被测器件和系统主要在数据中心和通信行业使用,具有串行I/O端口,其速率从24.33GBaud-57.8GBaud,可用于多种常见互联标准的接收和转换测试。
• 光收发器模块(QSFP-DD、SFP-DD、OSFP、QSFP28、QSFP、CFP4、CFP2),转发器和子系统。
• 光收发模块研究和成产特别并行800G产品
• 光器件/子系统研发和生产
接口与配置
• 外壳接地柱
• 220V交流电源输入口
• USB2.0接口1个
资源下载
• RS804T 详细指标见 RS804T 详细指标页。
注:以上内容与指标取自瑞索官网该产品详情页与其官方数据表。
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瑞索
RS804T 800G TEC三温误码率测试仪 详细指标
RS804T TEC三温误码率测试仪是集800G误码率测试仪、MCB板、TEC温控单元的误码测试系统,主要对光模块进行高温、常温、低温工况测试,由设备创造不同的温度环境,将模块温度升或降到设定值,对光模块进行误码等各项测试,检测光模块各项参……
详细指标
温控部分
• 控温范围:最小 -20℃ / 最小 20 至 50℃ / 最大 +80℃
• 控温精度:±0.2℃(设备温度) ℃
• 控温速度:最小 90S(20℃~70℃) / 典型 140S(70℃~-20℃) S
• 控温方式:半导体TEC片+水冷 / 最大 预冷/热区控温范围(无)
• 开机夹具降温时间:30分钟
• 控温工位:标准机型:1测试工位(可根据客需定制)
设备运营环境
• 电源:AC220V,50Hz
• 能耗:1 KW
• 水管:最小 8(内径) / 典型 12(外径) mm
• 测试台尺寸:最小 340mmx240mmx140mm / 典型 长宽高 mm
• 控制器尺寸:最小 400mmx600mmx600mm / 典型 长宽高 mm
误码发生部分
• 通道数:N
• 支持调制类型:NRZ,PAM4 差分
• 终端类型:交流耦合
• 支持速率:24.33/24.8832/25/25.78125/26.5625/27.89/27.95/28.05/28.125/28.2/28.9/48.66/49.7664/51.5625/53.125/56/56.25/56.4/57.8; Gbaud
• 频率精度:±100/±50ppm
• 最大输出幅度- (差分):56GBaud时为 600mVp-p2600mVp-p@56GBaud(带高振幅选 项) Mv
• 最大输入幅度 (差分):800mVp-p@56GBD
• 输出阻抗:50Ω±10%
• 上升时间(20% 至 80%):<10ps(CH1~CH8)
• 下降时间(80% 至 20%):<10ps(CH1~CH8)
• RMS 抖动:<450fs@56GBaud,<400fs@28GBaud(CH1~CH8)
• 射频接口:33(1.85mm)
同步时钟输出
• 幅度:>300 mVp-p
• 输出模式:交流耦合,差分
• 分频:2/4/8/16/32
• 射频接口:1.82mmfemale,50Ω
FEC纠错分析
• 类型:硬件FEC分析
• 纠前纠后误码测试:支持
• FEC余量测试:支持
• 符号错误分布测试:支持
公共部分
• 输入电源:AC:100-240V50Hz/60Hz
• GND:BERT接地柱 个
• 功耗:<60W
• 工作温度:-10 至 +55 ℃
• 储存温度:-40 至 +85 ℃
• 工作湿度:最小 10% 至 95% / 典型 无冷凝 %RH
• 储存湿度:最小 15% 至 90% / 典型 无冷凝 %RH
• 预热:30分钟 Min
• 散热要求:各方最少有50mm空隙
资源下载
• RS804T 产品介绍见 RS804T 产品介绍页。
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