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HawQ为许多公司的高度加速寿命测试(HALT)应用所开发,以快速提高他们电子产品设计的可靠性。

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RTS 最高128ch光器件环境可靠性测试系统 可移动|维度科技 (在产)

可移动的一站式测量系统,支持最高可达128ch的多路同时测试

参考价格 :
产品描述
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系统与解决方案

维度科技
RTS 光器件环境可靠性测试系统
可移动的一站式测量系统,支持最高可达128ch的多路同时测试
功能与结构
RTS 光器件环境可靠性测试系统 官方图示
产品概述
Dimension 光无源器件可靠性测试系统可以根据需求调整装配不同的模块,适用于对市面上的现有各类光无源器件的光学性能测试,环境稳定性测试,老化实验测试。同时该测试系统为了弥补传统设备只能在固定地方定点测试的缺点,在外观上采用拉杆行李箱的样式,将相关测试模块与处理数据的上位机都集成在箱体内部。无需担心数据处理与信息采集不及时的情况,设备可移动且独立完成整个测试任务。在生产制造测试领域的现场具有极大的优势,是真正为现场而准备的测试设备。
主要优势
• 平台+模块化设计,应用扩展齐全
• 可移动的一站式测量系统
• 支持实时测量与长时间稳定性监测
• 支持插入损耗与回波损耗同时监测
• 测量误差小,测试稳定性高
• 支持最高可达128ch的多路同时测试
• 丰富的接口配置
主要应用
• 符合各类标准: GR-326-CORE, GR-1435- CORE,
• GR-910-CORE, GR-1209-CORE, GR-2866-CORE,
• Verizon FOC
• 光无源器件的光学性能检测
• 长时间稳定性测试
平台+模块化设计,应用扩展方便
维度科技的11槽位OMEGA通用光学测试平台,可以兼容包含RLM系列插回损测试模块在内的多种功能测试模块,具有可热插拔、可编程、可扩展性强、易于维护和管理、综合成本低等显著优势。支持网络、USB、实体按键等多种控制方式。该系统集成了光开关、高稳定光源、高精度光功率计等功能测试模块,可以实现对无源器件的可靠性测试。
RTS 光器件环境可靠性测试系统 官方图示
可移动的一站式测量系统
该系统在外观上采用拉杆行李箱的样式,将相关测试设备与处理数据PC都集成在箱体内部,设备可移动且独立完成整个测试任务。
RTS 光器件环境可靠性测试系统 官方图示
设备集成度高,一套系统完成各类测试
不同于传统的测试方法,维度科技的可靠性测试系统里集成了插回损测试模块、光开关模块、光源,可完成插回损一次测量。
RTS 光器件环境可靠性测试系统 官方图示
资源下载
• RTS 详细指标见 RTS 详细指标页。
注:以上内容与指标均取自维度科技官网该产品详情页与官方产品资料,未标注口径的为厂家公布值。
维度科技(Dimension Technology) · onetest 仪器资源库

 

 

维度科技
RTS 详细指标
可移动的一站式测量系统,支持最高可达128ch的多路同时测试
详细指标
以下指标取自维度科技官网该产品详情页「性能参数」栏目的官方参数表,未标注测试条件的为厂家公布值。
• 产品基本型号:RTS1112A-1FA-24
• 光功率计部分:模块类型 | 单模
• 探测器类型:InGaAS
• 探测器大小:2mm
• 波长测试范围:850nm~1650nm
• 光功率测试范围:+10dBm~-75dBm aT 1550nm(不适用积分球)
• 线性度:±0.05dB(+5dBm~-50dBm)
• 总不确定性:±(5%+500pM)
• 功率分辨率:0.001dB
• 光源部分:光纤类型 | SM 9/125;Panda PMF
• 波长:1270、1290、1310、1330、1350、1370、1390、1410、1430、 1450、1470、1490、1510、1550、1570、1590、1625、1650
• 波长精度:±5nm
• 输出功率24小时功率稳定度:±0.005dB
• 边摸抑制比:>50dB
• 主机部分:工作电源 | AC90~260V/50HZ
• 开机稳定时间:20分钟(储存与使用一致) 60分钟(储存与使用温度不一致)
• 建议校准周期:两年
• 工作温度:10℃~40℃
• 储存温度:-40℃~70℃
• 尺寸:OMEGA机箱:462mmX374mmX171mm
补充说明与图示
主要规格参数
以下内容原为官网参数表截图,此处已转为文字。
• 产品基本型号:RTS1112A-1FA-24
• 光功率计部分 · 模块类型:单模
• 光功率计部分 · 探测器类型:InGaAs
• 光功率计部分 · 探测器大小:2mm
• 光功率计部分 · 波长测试范围:850nm~1650nm
• 光功率计部分 · 光功率测试范围:+15dBm~-70dBm @1550nm(不适用积分球)
• 光功率计部分 · 线性度:±0.05dB(+5dBm~-50dBm)
• 光功率计部分 · 总不确定性:±(5%+500pM)
• 光功率计部分 · 测试单位:dBm/dB
• 插损部分 · 信号通道数量:24CH
• 插损部分 · 工作波长:1310/1550
• 插损部分 · 插损测量精度:0~3dB <±0.08dB
• 插损部分 · 光纤类型:SM 9/125
• 插损部分 · 光输出接口:FC/APC
• 插损部分 · 光源稳定度:±0.01dB(常温 30 分钟)
• 回损部分 · 回损测量范围:-30~-80dB
• 回损部分 · 回损测量精度:-30~-65dB ±1.0dB;-65~-75dB ±2.0dB
• 回损部分 · 光纤测试长度:2~1000 米
• 回损部分 · 单次测量时间:<2s(单通道)
• 主机部分 · 工作电源:AC90~260V/50Hz
• 主机部分 · 开机稳定时间:20 分钟(储存与使用一致)、60 分钟(储存与使用温度不一致)
• 主机部分 · 建议校准周期:两年
• 主机部分 · 工作温度:10℃~40℃;储存温度:-40℃~70℃
• 主机部分 · 尺寸:OMEGA 机箱 462mm×374mm×171mm
针对IL的测试,更小的误差,更高的稳定性
该项测试系统使用了更高功率与稳定的SLS光源,通过PLC进行分光,满足测试中需要的多路同时测试。该系统避开了外接光开光造成对测试稳定均一性的干扰,也使用了更高稳定性的测试链路,完成单对单的高精度插损稳定测试。
RTS 光器件环境可靠性测试系统 官方图示
资源下载
• RTS 产品介绍见 RTS 产品介绍页。
注:以上内容与指标均取自维度科技官网该产品详情页与官方产品资料,未标注口径的为厂家公布值。
维度科技(Dimension Technology) · onetest 仪器资源库

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日本:MiKi Inc 电话:+81-3-5608-1315

墨西哥:ROCKA Solutions 电话:+52 663 407 1771 邮箱:andres.barrios@rockasolutions.com

秘鲁:HAYEX TECHNOLOGY S.A 电话:(511) 332-1055 邮箱:mnavinta@hayex.us

波兰:Interlab Sp. z o.o. 电话:+48 (022) 840 8170

新加坡/东南亚:Masstron Pte Ltd 电话:(65) 6763-0309 邮箱:joshuatan@masstron.com

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瑞士:Mesomatic Messtechnik ag 电话:+41 (0)41 748 60 22

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美国:Fiber Optic Center, Inc. 电话:800-473-4237 / 508-992-6464 邮箱:sales@focenter.com

越南:OPTICHECK EQUIPMENT VIETNAM CO., LTD 电话:(0084)842576777 邮箱:opticheck@oev.com.vn


 

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