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R&S光博会亮六套光电测试方案,110GHz直测PIC

  • 分类:技术创新
  • 作者:罗德与施瓦茨
  • 来源:罗德与施瓦茨
  • 发布时间:2026-09-29 10:42
  • 访问量:21

R&S光博会亮六套光电测试方案,110GHz直测PIC

Onetest仪器资源库 · 探展 CIOE 2026

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9 月 9 日,中国国际光电博览会(CIOE)在深圳开幕。罗德与施瓦茨(以下简称 R&S)以「以测见微,以光致远」为主题参展,围绕光通信、激光器与先进光子技术,展出六套测试方案,覆盖从晶圆、芯片、器件、模组到系统级验证的测试链路。

01   110 GHz 的 PIC 超大带宽测试

方案由 R&S 与苏州六幺四联合推出,基于 ZNA 系列高端矢量网络分析仪,配合 ZNA67EXT 外扩测试端口把频段向上扩展到 110 GHz,在毫米波与亚太赫兹频段做连续、高精度扫频。

测量对象覆盖电光、光电、光光三类元器件,可给出 110 GHz 以内的幅度与相位响应曲线,以及被测器件的 S 参数、3 dB 带宽、差分/共模参数、交调互调参数、总谐波失真、噪声系数等指标。适用器件包括光波导、激光器、光电调制器、探测器、光微环、光栅,也用于高速互连与太赫兹研究中的超宽带表征。该方案位于六幺四展台(12D56)。

PIC 超大带宽测试方案展台

六幺四展台,ICRA 相干光接收元器件分析仪与 R&S 矢量网络分析仪搭出的 110 GHz 测试链路

02   相对强度噪声测试

相对强度噪声(RIN)衡量激光源的信号纯净度,直接影响高速光通信系统的灵敏度。R&S 与苏州六幺四基于微波光子技术原理推出 RINA 系列相对强度噪声分析仪,搭配 FSW / FSVA / FSV 系列信号与频谱分析仪,实现大带宽、高灵敏度的相对强度参数测试,面向激光器研发与封装测试环节。

相对强度噪声测试方案展台

相对强度噪声测试方案展台,RINA 相对强度噪声分析仪与 R&S FSW 信号和频谱分析仪

03   激光线宽测试

激光线宽是衡量激光器相干性与频谱纯度的核心参数,直接决定相干光通信、精密传感系统的整体性能。方案以 FSVA / FSW 信号与频谱分析仪为核心,结合延迟自外差方法,对 kHz 到 MHz 量级的激光线宽做精准、稳定的测量,用于相干通信、精密传感、计量等领域高性能激光器的研制。

激光线宽测试方案展台

激光线宽测试方案与 LIV 测试方案展台,FSVA 信号和频谱分析仪与 NGU 直流电源

04   LIV 测试

L-I-V 特性是激光器最基础也最核心的性能参数,是评估光电转换性能与工作稳定性的依据。方案以 NGU / HMP 直流电源(SMU)为核心测试硬件,搭配 MXO 系列示波器辅助信号采集,搭建全自动 L-I-V 测试系统,同步完成光电转换效率、阈值电流、工作电压与输出光功率的测量,覆盖产品研发验证与批量生产质控全流程。

05   超低相位噪声测试

在高频与毫米波系统中,相位噪声决定设备的通信质量与探测精度,是高端射频、光通信系统的核心考核指标。方案基于 FSWP 相位噪声分析仪与 VCO 测试仪,分析射频至毫米波频段各类振荡器、频率合成器及整机系统的相位噪声与时钟抖动,服务于高速光通信、高速时钟、CDR 等系统的性能保障。

超低相位噪声测试方案展台

超低相位噪声测试方案与相干光接收分析测试方案展台,FSWP 相位噪声分析仪与矢量网络分析仪

06   相干光接收元器件分析

R&S 与苏州六幺四联合推出 ICRA 系列相干光接收元器件分析仪,搭配 R&S 矢量网络分析仪,为相干光接收器件与系统给出完整的 S 参数测试方案。可测参数包括相对幅度响应、相对相位差响应、绝对幅度响应、延时差,频率范围 100 MHz 至 110 GHz,覆盖可调谐 C 波段与 L 波段工作波长,适用于高速相干光接收芯片、器件与模块测试,以及产线、研发线与科研场景。

展会期间(9 月 9 日至 11 日),R&S 技术专家在 13 号馆 13A92 展台做现场演示。


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