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LA Techniques Ltd

英国

产品：USB矢量网络分析仪、信号发生器、频率合成器

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用于测量 SMT 器件的 TRL 校准

本说明介绍如何使用 LA19-13-04B VNA 进行 TRL 校准来评估印刷电路板上的 SMT 器件。描述了使用低成本FR4测试PCB的示例。该板包括执行 TRL 校准所需的校准标准。

用于测量 SMT 器件的 TRL 校准

SMT器件的S参数测量

本说明介绍了一种使用低成本 FR4 测试夹具和 LA19-13-03 8 GHz VNA 测量 SMT 器件 s 参数的技术。夹具包括执行 VNA 校准以消除夹具影响所需的校准标准。

SMT器件的S参数测量

LA19-13-03的不确定性报告

本说明描述了 LA19-13-03 矢量网络分析仪的计算不确定度。这些计算基于实际测量，很好地表明了仪器的能力。

LA19-13-03的不确定性报告

采样PLL中的相位噪声分析

分析采样锁相环中的相位噪声。本文对采样PLL的特性进行了深入分析，并特别强调了采样或比较频率下对相位噪声的影响。

采样PLL中的相位噪声分析

应用笔记 LAP03 （LA19-13-02）

应用说明 LAP03 介绍了 LA19-13-02 低成本矢量网络分析仪的校准程序，包括使用 Iss2 校准套件，当 DUT 不可插入时，只需一个套件即可进行全面校准。它还描述了测量不确定度。

应用笔记 LAP03 （LA19-13-02）

LA19-13-01 3 GHz VNA 校准和测量不确定度，编号 LAP02 v1.2

LA19-13-01 低成本矢量网络分析仪的校准和测量不确定度由英国国家物理实验室和 LA Techniques Ltd. 联合评估，该说明还包含应用信息。

LA19-13-01 3 GHz VNA 校准和测量不确定度，编号 LAP02 v1.2

高速驱动放大器的设计注意事项和性能要求，参考文献 LAP01

本技术说明介绍了高速驱动放大器的带宽和相位线性度要求的背景。它还描述了用于实现高性能驱动放大器的流行放大器电路技术和构造技术。

高速驱动放大器的设计注意事项和性能要求，参考文献 LAP01

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Email:sales@latechniques.com

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LA Techniques Ltd 自 1997 年以来一直在设计和制造组件以及测试和测量设备。最初，产品范围包括数据驱动放大器和其他数字和模拟组件，面向高速、高质量的电信应用。然后增加了一系列创新的低成本PRBS发生器。最近，我们推出了低成本的矢量网络分析仪，遵循了同样的创新传统和对细节的关注。

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