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EMID 1M电磁干扰去耦夹用于电快速瞬变脉冲群抗扰度试验（GB/T 17626.4、IEC 61000-4-4）中的干扰信号去耦，可以将瞬变脉冲群信号衰减20 dB以上
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EMID 1M 电磁干扰去耦夹|泰思特3CTEST (在产)
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泰思特3CTEST|苏州泰思特电子科技有限公司
电磁干扰去耦夹 EMID 1M
电快速瞬变脉冲群衰减系数* 20dB
产品简介
EMID 1M电磁干扰去耦夹用于电快速瞬变脉冲群抗扰度试验（GB/T 17626.4、IEC 61000-4-4）中的干扰信号去耦，可以将瞬变脉冲群信号衰减20 dB以上。也可用于1 MHz以上干扰信号的衰减，衰减系数大于10 dB（与信号频率有关）。本产品采用卡扣式结构，可以直接套在待去耦的线缆上，使用方便。同时去耦夹还具有与去耦线缆物理隔离的特点。
核心参数
• 电快速瞬变脉冲群衰减系数*：≥20 dB
• 可通过线缆直径：38 mm
• 尺寸：520 mm（长）×130 mm（宽）×120 mm（高）
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• 电磁干扰去耦夹 EMID 1M 的全部技术指标已单独整理，见本产品详情页「详细指标」标签。
以上内容与指标均取自泰思特3CTEST（苏州泰思特电子科技有限公司）官网该产品详情页与官方产品资料，未标注口径的为厂家公布值。
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泰思特3CTEST|苏州泰思特电子科技有限公司
电磁干扰去耦夹 EMID 1M 详细指标
电快速瞬变脉冲群衰减系数* 20dB
详细指标
指标取自泰思特3CTEST 官网产品页，口径与试验条件按厂家原文，未做换算。
技术参数
• 电快速瞬变脉冲群衰减系数*：≥20 dB
• 可通过线缆直径：38 mm
• 尺寸：520 mm（长）×130 mm（宽）×120 mm（高）
• 工作温度：0℃~65℃
• 重量：7.5 kg
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指标取自泰思特3CTEST 官网产品页，口径与试验条件按厂家原文，未做换算。 本页为厂家公开资料的结构化整理，选型请以厂家最新资料为准。
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