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P2000测试机是GaN FET专用测试机
适用于GaN FET量产测试和实验室测试
测试规格为1000V10A
支持DC和动态Ron测试
最大支持16工位并行测试
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P2000 16工位功率测试机|长川科技 (在产)
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长川科技 杭州长川科技股份有限公司
功率测试机 P2000
1000V 10A · 功率器件分析仪
产品简介
P2000测试机是GaN FET专用测试机，适用于GaN FET量产测试和实验室测试，测试规格为1000V10A，支持DC和动态Ron测试，最大支持16工位并行测试。
核心参数
• 测试规格：1000V 10A
• 最大工位数：16
• 漏电测试精度：0.1nA
• 系统特点：1、支持最大16工位并行测试，每工位1000V 10A测试能力； 2、全浮动源架构，提高测试精度和测试稳定性； 3、专用漏电测量回路，漏电测试精度达pA级，异常工位不影响正常工位测试； 4、支持DC+动态Ron一站测试； 5、动态Ron支持软、硬切方案，单次测试时间<2us； 6、支持DPAT测试； 7、支持SESE/GEM协议。
功能特性
• 最大支持16工位并行测试
• 支持最大16工位并行测试，每工位1000V 10A测试能力
• 全浮动源架构，提高测试精度和测试稳定性
• 专用漏电测量回路，漏电测试精度达pA级，异常工位不影响正常工位测试
• 支持DC+动态Ron一站测试
• 动态Ron支持软、硬切方案，单次测试时间<2us
• 支持DPAT测试
• 支持SESE/GEM协议
应用场景
• 应用环节：成品测试 / 器件筛选 / 可靠性验证——面向 IGBT、MOSFET、功率 IC 等功率器件的静态与动态参数测试
资源下载
• 功率测试机 P2000 的全部技术指标已单独整理，见本产品详情页「详细指标」标签。
以上内容与指标均取自长川科技（杭州长川科技股份有限公司）官网该产品详情页与官方产品资料，未标注口径的为厂家公布值。
长川科技 · onetest 仪器资源库
长川科技 杭州长川科技股份有限公司
功率测试机 P2000 详细指标
1000V 10A · 功率器件分析仪
详细指标
指标取自长川科技 官网产品页，按官网参数表原文整理；官网未提供独立 PDF 规格书。
功率器件分析仪技术参数
• 设备型号：P2000
• 系统特点：1、支持最大16工位并行测试，每工位1000V 10A测试能力； 2、全浮动源架构，提高测试精度和测试稳定性； 3、专用漏电测量回路，漏电测试精度达pA级，异常工位不影响正常工位测试； 4、支持DC+动态Ron一站测试； 5、动态Ron支持软、硬切方案，单次测试时间<2us； 6、支持DPAT测试； 7、支持SESE/GEM协议。
• 测试规格：1000V 10A
• 最大工位数：16
• 漏电测试精度：0.1nA
资源下载
以上规格取自长川科技（杭州长川科技股份有限公司）官网 P2000 系列产品详情页。
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