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用于无损、高精度地测量薄膜材料的厚度（从亚纳米到微米级）和光学常数（折射率n和消光系数k）的先进的光学量测设备
其工作原理基于分析偏振光在样品表面反射或透射后偏振状态的变化，从而提取出样品极其精细的光学性质和结构信息
为科研与工业应用提供了强大、可靠且高效的测量解决方案
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光谱椭偏仪|武汉精测 (在产)
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武汉精测 武汉精测电子集团股份有限公司
光谱椭偏仪
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产品简介
用于无损、高精度地测量薄膜材料的厚度（从亚纳米到微米级）和光学常数（折射率n和消光系数k）的先进的光学量测设备。其工作原理基于分析偏振光在样品表面反射或透射后偏振状态的变化，从而提取出样品极其精细的光学性质和结构信息。为科研与工业应用提供了强大、可靠且高效的测量解决方案。
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• 光谱椭偏仪 的全部技术指标已单独整理，见本产品详情页「详细指标」标签。
以上内容与指标均取自武汉精测（武汉精测电子集团股份有限公司）官网该产品详情页与官方产品资料，未标注口径的为厂家公布值。
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