客服
JHP560专为第三代功率半导体设计的动态可靠性测试系统（DHTGB/DHTRB），核心功能是通过大容量、高性能测试（宽电压、高频、高dv/dt），对栅氧缺陷、界面态劣化、材料缺陷等引发的早期失效进行高效评估与筛选，从而提升器件可靠性和良率
ONETEST 欢迎您
厂商登录 | 入驻
登录 | 注册 购物车 微信公众号厂商登录
类似产品
WLBI3810 晶圆级老化系统（晶圆级老化系统） WLBI3810属于晶圆级老化系统类别联讯仪器WLBI3810晶圆级老化系统是一款专为碳化硅（SiC），氮化镓（GaN）晶圆设计的高端老化测试设备，具备高效、精准的测试能力该系统可同时对9片晶圆进行高温栅极偏压（HTGB）和高温反向偏压（HTRB）老化测试，测试时间范围从数分钟至数千小时，灵活适应不同产品的老化需求设备集成了全自动上下料系统，采用三卡塞设计，支持无缝切换，并具备自动切换老化条件的功能，确保测试过程的高效性和连续性
WLBI3800 晶圆级老化系统（晶圆级老化系统） WLBI3800属于晶圆级老化系统类别WLBI3800晶圆级老化系统是一款高端专业的碳化硅晶圆老化测试设备，能够同时对3片晶圆进行高温栅极偏压(HTGB)老化和高温反向偏压(HTRB)老化，老化测试时间范围广泛，从数分钟到数十小时，甚至可扩展至数千小时，可满足不同产品的老化需求
WLBI370B 晶圆级老化系统（晶圆级老化系统） WLBI370B属于晶圆级老化系统类别联讯仪器WLBI370B晶圆级老化系统是一款高产出，全自动化的晶圆级老化设备该系统可同时对15片晶圆进行高温栅极偏压（HTGB）和高温反向偏压（HTRB）老化测试，并支持在RB老化过程中对栅极（Gate）施加负压，测试时间范围从数分钟至数千小时，灵活适应不同产品的老化需求
同厂商产品
D-HTFB双极性测试系统是针对SiC MOSFET体二极管双极退化机理自主研发的高加速可靠性测试解决方案设备集大电流脉冲源、高精度静态参数测量与动态结温控制于一体，系统基于动态高温正向偏压测试原理，通过向被测器件施加重复性的大电流双极脉冲，精准激发并量化体二极管的堆层错扩展导致的性能退化
JHP550专为碳化硅（SiC）器件苛刻测试要求而设计的高精度、高效率、高可靠性测试解决方案，针对碳化硅MOSFET的栅极氧化层，通过监测栅极-漏电流的变化，评估器件在高温、高电场条件下的长期稳定性和可靠性
JHP560 Series 第三代功率半导体动态可靠性测试系统|武汉精测 (在产)
产品描述
详细指标
软件和手册|白皮书
购买渠道
选件
问大家
视频
测评
口碑
系统与解决方案
武汉精测 武汉精测电子集团股份有限公司
JHP560 Series 第三代功率半导体动态可靠性测试系统
功率器件测试 · 晶圆级老化系统
产品简介
JHP560专为第三代功率半导体设计的动态可靠性测试系统（DHTGB/DHTRB），核心功能是通过大容量、高性能测试（宽电压、高频、高dv/dt），对栅氧缺陷、界面态劣化、材料缺陷等引发的早期失效进行高效评估与筛选，从而提升器件可靠性和良率。
核心参数
• VGS 范围 / 精度：-60 至 60 V / ±0.1 V
• 频率与占空比：25 kHz 至 1 MHz；精度 1%FS±0.1 kHz；占空比 0% 至 100%，步长 1%，分辨率 1%
• dVDS/dt：＞0.3 V/ns，过冲 ＜0.5 V；dV/dt 无极调速
资源下载
• JHP560 Series 第三代功率半导体动态可靠性测试系统 的全部技术指标已单独整理，见本产品详情页「详细指标」标签。
以上内容与指标均取自武汉精测（武汉精测电子集团股份有限公司）官网该产品详情页与官方产品资料，未标注口径的为厂家公布值。
武汉精测电子集团股份有限公司 · onetest 仪器资源库
武汉精测 武汉精测电子集团股份有限公司
JHP560 Series 第三代功率半导体动态可靠性测试系统 详细指标
功率器件测试 · 晶圆级老化系统
详细指标
指标取自厂家官网该产品页的规格表截图，按原图转写，未做换算。
老化应力（DHTGB 机型）
• VGS 范围 / 精度：-60 至 60 V / ±0.1 V
• 频率与占空比：25 kHz 至 1 MHz；精度 1%FS±0.1 kHz；占空比 0% 至 100%，步长 1%，分辨率 1%
• dVDS/dt：＞0.3 V/ns，过冲 ＜0.5 V；dV/dt 无极调速
老化应力（DHTRB 机型）
• VDS 范围 / 精度：0 至 2000 V（兼容主被动测试方案）/ 0.3%FS
• 频率与占空比：25 kHz 至 1 MHz；精度 1%FS±0.1 kHz；占空比 0% 至 100%（取决于 DUT 测试电压与测试电容）
• dVDS/dt：＞50 V/ns，过冲 ＜15%；dV/dt 无极调速
参数测试
• IGSS 测试（DHTGB）：1 nA 至 100 mA，最高精度 1 nA，最高分辨率 0.1 nA
• IDSS 测试（DHTRB）：1 nA 至 100 mA，最高精度 1 nA，最高分辨率 0.1 nA
• 选配测试：支持 Vth（JEP183）/ RDS(on)、Igss 等参数测试
加热
• 加热性能：每个 DUT 独立加热，室温可达 200 ℃，分辨率 0.1 ℃，精度 ±3 ℃
武汉精测官网 www.wuhanjingce.com 产品页与官方产品手册，采集于 2026-10-22
武汉精测电子集团股份有限公司 · onetest 仪器资源库
全部
武汉精测官方渠道
官方渠道（官网 / 热线 / 邮箱）
官方渠道（武汉总部 / 电话 / 邮箱）
• 联系电话 027-87526915
• Email jc@wuhanjingce.com
• 地址 武汉市东湖新技术开发区佛祖岭四路2号
• 官网 https://www.wuhanjingce.com/
0条提问
X
提问
X
回答
暂无视频
0条口碑
X
发表口碑
粤公网安备44030902003758