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QT-8404D 功率器件高速测试系统，测试范畴涵盖 MOSFET（含 Si、SiC、GaN 材质）、IGBT、三极管及二极管等，可扩展带驱动的功率器件
QT-8400GaN 是 QT-8400 平台中专用于氮化镓器件动静态电参数测试的机型悬浮 V/I 源最高 3 KV，配动态 RDSON 模组支持硬切与软切两种测量方式，同样支持 2/4/8/16 Site 并行
QT-8400D 是 QT-8400 平台的功率器件多 Site 测试系统，专用于 MOSFET、SiC、二极管、三极管、IGBT 等器件的 CP 测试整机以悬浮 V/I 源为测量核心，支持 2/4/8/16 Site 并行测试，并可按需扩展动态模组与高压/直流模组
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QT-6000 1200V/30A分立器件高速测试系统 UPH 40K|联动科技 (在产)
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系统与解决方案
联动科技|佛山市联动科技股份有限公司
QT-6000 分立器件高速测试系统
UPH>40 K · 1200 V/30 A · 电容最小 100 fF · pA 级漏电测试
产品简介
QT-6000分立器件高速测试机，适用于测试中小功率二极管、三极管、MOS等产品，可拓展内置电容（DC+CAP）、EAS、Vc、pA模块，也可扩展外挂LCR(超高精度电容测试)、Scanbox等，应用于晶圆、FT量产或实验室测试
核心参数
• UPH：>40 K（官网）；图册：满足 UPH 56 K 以上分选机
• 并行：可一拖二实现 100% FT+QA 并行测试
功能特性
• 测试精度高、速度快、稳定性好、抗干扰能力强
• 采用四象限电路，保护被测器件
• 采用悬浮电源与全对称结构
• 高速测试，UPH>40 K；图册口径满足 UPH 56 K 以上分选机
• 可一拖二实现 100% FT+QA 并行测试
• 电容高速测试：CAP+DC 同工位
• 内置 UIS 测试：DC+UIS 同工位
• LCR 精准电容测试，最小测试电容值 100 fF
• 电压/电流（可选）：1200 V/600 V，30 A/10 A/3 A
应用场景
• 适用器件：中小功率二极管、三极管、MOS
• 场景：晶圆测试、FT 量产或实验室测试
• 扩展：内置电容（DC+CAP）、EAS、Vc、pA 模块；外挂 LCR（高精度电容）、Scanbox
资源下载
• QT-6000 分立器件高速测试系统 的全部技术指标已单独整理，见本产品详情页「详细指标」标签。
以上内容与指标均取自联动科技（佛山市联动科技股份有限公司）官网该产品详情页与官方产品资料，未标注口径的为厂家公布值。
佛山市联动科技股份有限公司 · onetest 仪器资源库
联动科技|佛山市联动科技股份有限公司
QT-6000 分立器件高速测试系统 详细指标
UPH>40 K · 1200 V/30 A · 电容最小 100 fF · pA 级漏电测试
详细指标
官网给出 UPH 与量程档；量程细分、测量精度与波形记录取自厂家中文图册（2025-12 版）第 9 页。图册写 UPH 满足 56 K 以上分选机，官网写 UPH>40 K，两者为不同配置口径，均已列明。
产能与并测
• UPH：>40 K（官网）；图册：满足 UPH 56 K 以上分选机
• 并行：可一拖二实现 100% FT+QA 并行测试
电压/电流（可选）
• 电压：1200 V/600 V
• 电流：30 A/10 A/3 A
量程（图册）
• 电流量程：30 A/3 A/300 mA/30 mA/3 mA/300 μA/30 μA/3 μA/300 nA/30 nA
• 电压量程：1200 V/600 V/300 V/30 V/3 V/300 mV/30 mV
• 电容量程：300 pF/30 pF/3 pF（BIAS 0 至 80 V）
精度（图册）
• 电流：0.5% + 0.05% 量程 + 1.5 nA
• 电压：0.5% + 0.05% 量程 + 1.5 mV
• 电容：0.5% + 0.05% 量程 + 10 fF
• pA 测量：快速测试 pA 级漏电流，精度 1 pA（选配）
波形（图册）
• 分辨率：16 bit ADC/DAC
• 波形捕获：100 K/1 M/10 M 可选，采样深度 1024 KB
同工位集成
• 电容：CAP+DC 同工位测试
• 雪崩：DC+UIS 同工位测试
• LCR：高精度电容测试，最小 100 fF
资源下载
联动科技官网 cn.powertechsemi.com 产品页与厂家中文图册《PowerTECH20251219》（2025-12 版），采集于 2026-10-22
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