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RP600 毫米波紧缩场 OTA 测试系统|通用测试 (在产)

通用测试设计制造的 RP600 紧缩场测试系统是针对毫米波相控阵天线和相关产品的天线/OTA 性能测试平台

该系统在保证系统高精度的同时,更加强调快速测试、占地空间小、快速交付和接口开放等特点

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系统与解决方案

通用测试 General Test Systems
RP600 毫米波紧缩场 OTA 测试系统
无线终端认证级支持5G FR2 OTA测试系统
产品简介
通用测试设计制造的 RP600 紧缩场测试系统是针对毫米波相控阵天线和相关产品的天线/OTA 性能测试平台。该系统在保证系统高精度的同时,更加强调快速测试、占地空间小、快速交付和接口开放等特点。RP600 中被测件扫描范围覆盖全球面,被测件需要竖直放置。
核心参数
• 被测件口径:≤350mm 相控阵天线
• 频率范围:6 至 110GHz
• 静区相位总变化:≤8°
• 馈源相位中心波动:≤5°(E/H 面)
• 形态:紧缩场(CATR)
功能特性
• 相位中心一致的馈源
相比传统的波纹喇叭馈源,通用测试自主研发的紧缩场馈源,宽角度交叉极化性能优异,E面和 H面相位中心波动≤5°,驻波小于1.5。
在系统整体仿真中,系统交叉极化测试精度提高近3倍,相位测试精度提高约20%。
• 低边缘散射的反射面
新型吸波围边反射面和传统的锯齿边/卷边反射面相比,能有效降低纯金属边缘带来的电磁波散射,削弱散射波对静区的干扰,
进而提升精度的幅相均匀性,实测静区性能赶超国际先进水平,其中相位总变化小于等于8°。
同时,新型围边反射面能利用较小的金属反射面区域产生较大的静区范围,从而降低反射面尺寸要求,减少反射面重量。
• 低散射高精度挡转台
通用测试掌握精密机电技术,与系统全波仿真,自研吸波材料,微秒级连续触发技术相结合,在保证系统机械精度的同时,
降低转台对测试区域干扰,正反往复测试误差零积累,提高测试效率近一倍。
转台的维度、精度、运动范围、承重等指标可根据需求定制。
• EPP高性能吸波材料
通用测试自主研发、生产和测试的 EPP 吸波材料,选用环保、耐久的 EPP 吸波基体;
采用全波仿真优化设计,保证了吸波材料整体的吸波性能;
超宽频、多入射角吸收率测试技术,保证每块吸波材料的品质和质量;
拥有优异的性能,其阻燃性能满足足 UL94 HF-1 标准,吸波性能国际领先,不掉粉,不吸潮,广泛适用于室外、
洁净间、PIM 暗室、OTA 暗室等各种应用场景。
• 睿测紧缩场测试软件
睿测紧缩场测试软件由通用测试基于.NET Framework平台自主研发,完全遵循CTIA测量规范,并随规范的更新而实时升级。
睿测紧缩场测试软具有适用范围广、功能配置灵活、测试过程流畅、运行稳定可靠和软件UI简洁友好等突出特点,
全面支持“研发——预认证——认证——产线抽查”等各阶段测试需求。
• 测试性能
静区性能是衡量紧缩场系统的核心指标之一,RP 系统的静区性能国际领先,并在系统仿真设计、馈源、反射面、吸波材料、
转台和静区检测设备均掌握国际 / 国内领先的核心技术。
有源相控阵扫波测试
• 测试功能
有源测试功能:RP600 紧缩场测试系统适配 ≤350mm 口径的相控阵天线,频段范6~110GHz,
转台和产品夹持方式可根据用户需求定制,系统外尺寸可根据用户场地灵活调整,测试项目包括相控阵天线校准、
无源和有源的收发性能测试等。
无源测试功能:天线1D/2D/3D增益/相位方向图方向性、效率波束宽度、波束指向(瞄准误差)交叉极化比、副瓣电平、
零点填充相控阵天线测试功能:紧缩场校准法旋转矢量法总辐射功率参考灵敏度频率误差误差矢量幅度载波泄露吞吐率频谱辐射模板邻道泄露抑制比总辐射功率参考灵敏度频率误差误差矢量幅度载波泄露吞吐率频谱辐射模板支持自由选择测试角度步长和测试配置。
支持三维测试、平面的二维测试及单点测试验证。
支持任意点测试数据的点击查看。
软件集成系统校准功能,并支持丰富的测试过程防掉线、断点续连及异常提示设置,有效提升测量的可靠性和流畅性。
测试原始数据和日志管理完善,测试过程固化不可更改、可追溯。
批处理功能支持建立任务列表,实现无人值守的连续测试。
软件内置丰富模板,预设参数设置充分考虑不同仪表及平台的特性,操作简易,有效避免误操作。
三维数据显示软件提供方向图任意角度旋转浏览及切割功能,帮助研发工程师直观分析诊断问题。
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以上内容与指标均取自通用测试(General Test Systems)官网该产品详情页与官方产品资料,未标注口径的为厂家公布值。
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