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N8130 10通道 6V 50mA至10A超高采样率超级电容容量内阻测试仪 300mW至60W|恩智技术 (在产)

通道数:10

电压:6V

电流:50mA至10A

功率:300mW至60W

采样&通讯传输间隔高达1ms,完全真实还原测试过程数据

充转放过程无缝切换,无过充过放

功能丰富的上位软件,支持生产分选功能

每通道对应状态指示灯,分选更方便

参考价格 :
产品描述
详细指标
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恩智技术|恩智技术股份有限公司
超高采样率超级电容容量内阻测试仪
超高采样率,超快响应速度,超级电容测试必备 · 10通道 · 6V · 50mA至10A · 300mW至60W
产品简介
N8130超高采样率超级电容测试仪为NGI公司针对超级电容、电池研发和生产而自主设计开发的新一代专用测试仪器。
采样速度高达1ms,充转放过程无缝切换,N8130完全满足超级电容、电池充电容量、放电容量、充电等效串联内阻、放电等效串联内阻、能量转换效率、循环寿命等电气参数进行高精度测试测量。
N8130支持六步法,IEC62391,QC/T 741等全部主流测试标准,用户可根据需要灵活选。
N8130上位机软件支持平台化测试应用,用户可根据测试工艺和测试流程自行定制测试文件,测试结果可方便存储和导出。
导出格式可支持数据库、EXCEL、JPG文件。
核心参数
• 通道数:10
• 电压:6V
• 电流:50mA至10A
• 功率:300mW至60W
• 精度:电压≤0.02%+0.02%F.S./电流≤0.05%+0.05%F.S.
• 分辨率:10μV/0.1mA至10μV/1μA
功能特性
• 容量测量
• 直流内阻(DCIR)测试
• 寿命测试
N8130可通过重复充放电循环测试,测量超级电容在充放电过程中表征寿命特征的各项物理参数并提取其衰减曲线。
通过分析参数衰减曲线,用户可获取超级电容在不同应用环境下的预计寿命、充放电周期以及在不同阶段的性能指标。
寿命测试结果可用于指导材料、工艺、存储等诸多环节的改善。
• 四线制测量功能
超级电容测试过程中需要输出较大电流,测试线将会引入较大电压降(线损),影响测量精度。
N8130全系列型号均采用四线制接线方式,直接采集超级电容两端电压而避免因测试线线损带来的电压误差,从而确保测量精度。
• 测试夹(治)具
考虑到不同规模的测试应用场景,NGI提供两种测试夹(治)具供用户选择:开尔文夹、12通道专用治具。
两种测试夹(治)具均为四线制接法。
• 测试软件
(1) N8130测试软件采用平台化设计,用户可根据工艺需求自行定制测试流程。
(2) 类Office界面风格,各通道独立显示,支持电压电流波形绘制,可以表格形式显示结果等诸多元素,
使得这款专业软件在具备强大测试功能同时,兼具美观易用优点。
资源下载
• 超高采样率超级电容容量内阻测试仪 的全部技术指标已单独整理,见本产品详情页「详细指标」标签。
以上内容与指标均取自恩智技术(NGI)官网该产品详情页与官方产品资料,未标注口径的为厂家公布值。
恩智技术|恩智技术股份有限公司 · onetest 仪器资源库

 

 

恩智技术|恩智技术股份有限公司
超高采样率超级电容容量内阻测试仪 详细指标
超高采样率,超快响应速度,超级电容测试必备 · 10通道 · 6V · 50mA至10A · 300mW至60W
详细指标
表中各型号参数依次为:通道数、电压、电流、功率、精度、分辨率、通讯接口、尺寸(顺序与官网型号表一致)。
系列型号参数
• N8130A-06005:10 · 6V · 0.05A · 0.3W · 电压≤0.02%+0.02%F.S./电流≤0.05%+0.05%F.S. · 10μV/10μA · LAN · 3U
• N8130A-060A5:10 · 6V · 0.5A · 3W · 电压≤0.02%+0.02%F.S./电流≤0.05%+0.05%F.S. · 10μV/1μA · LAN · 3U
• N8130A-06020:10 · 6V · 2A · 12W · 电压≤0.02%+0.02%F.S./电流≤0.05%+0.05%F.S. · 10μV/0.1mA · LAN · 3U
• N8130A-06100:10 · 6V · 10A · 60W · 电压≤0.02%+0.02%F.S./电流≤0.05%+0.05%F.S. · 10μV/0.1mA · LAN · 3U
资源下载
以上规格取自恩智技术(NGI)官网该产品页的型号参数表与官方产品资料(2026 年 11 月读取),实际以出厂规格书为准。
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