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解决各种结构复杂的OSA器件的测试问题
既可以实现BOSA器件的快速测试
支持不同封装的 DFB和EML TOSA器件的LIV综合测试
也支持不同速率APD或PINTIA器件的接收灵敏度
并进行内部光路的隔离度和光串扰测试
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PSS BOSA01001 BOSA综合测试系统 |普赛斯 (在产)
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系统与解决方案
BOSA综合测试系统
用于 Combo（GPON&XPON，GPON&XGSPON）OLT/ONU Quad OSA 测试。普赛斯采用插卡式组合方案，根据客户需求，灵活配置，解决各种结构复杂的 OSA 器件的测试问题。既可以实现 BOSA 器件的快速测试，又可以实现结构复杂的 Combo PON 器件的一键测试。支持不同封装的 DFB 和 EML TOSA 器件的 LIV 综合测试，也支持不同速率 APD 或 PIN-TIA 器件的接收灵敏度、响应度、暗电流等指标的测试。模拟器件实际应用环境，并进行内部光路的隔离度和光串扰测试，真实反映器件的性能。
应用
OSA 器件综合测试；
特点
采用插卡式组合方案，配置灵活，兼容各种 BOSA & COMBO 器件测试，设备集成度高，占用体积空间小；
支持内部串扰测试，有效检测 Filter 不良问题；
全套夹具，支持 Flex 和插针的各种类型封装；
支持不同速率的灵敏度测试，最高速率支持 25G；
规格
器件类型和测试条件可任意配置，支持 VBR、暗电流、灵敏度、饱和光功率、响应度、光隔离度、Xtalk 串扰、Ith、正向电压、背光电流、功率、暗电流、斜效率以及 Kink 点、EaPo 等参数测试。现有成熟的 2.5G、10G、25G ROSA 或 BOSA 的测试方案，以及结构复杂的 Combo PON 器件的综合测试解决方案，各方案配置型号如下：
| 序号 | 测试应用对象 | 型号 | 备注 |
|---|---|---|---|
| 1 | 2.5G BOSA 器件 | PSS BOSA02501 | - |
| 2 | 10G BOSA 器件 | PSS BOSA01001 | - |
| 3 | 10G ROSA 器件 | PSS ROSA01001 | - |
| 4 | 25G ROSA 器件 | PSS ROSA25001/PSS ROSA25002 | 不支持 / 支持回损测试 |
| 5 | ComboPON 器件 | PSS CPON01001 | - |
各测试方案都配套设计有操作简单的测试夹具，解决用户所有测试难点。
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