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Chroma 3112具备单头与多头之适合量产的PnP 自动化芯片测试分类机，可藉由治具变更处理各种不同尺寸规格之芯片测试与分类
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应用于芯片、器件、模块/组件在-55°C~+125°C高低温环境下自动化测试、分选设备配备高低温试验箱(分别提供高温和低温试验环境)、高低温运动平台、料盘周转系统、高低温视觉系统和自动测试软件可实现自动上下料和在高温和低温环境下并行测试,保证产品测试的可靠性和连续性自动进行高低温测试切换，无须人工干预
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3112 12输出分类盘晶片测试分类机 4盘置入|致茂电子Chroma (在产)
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致茂 Chroma
3112 晶片测试分类机
12输出分类盘 · 4盘置入
产品简介
Chroma 3112具备单头与多头之适合量产的PnP 自动化芯片测试分类机，可藉由治具变更处理各种不同尺寸规格之芯片测试与分类。此设备透 过PnP方式将芯片自芯片盘加载至测试站中，精确的测试后依据测试结果稳定的放置于分类盘中。其高效率的模块化设计与精准的机构传动 结构可确保在高速运作下减少Jam Rate的量产要求，多重检查功能装置可降低待测物发生异常的损坏。
芯片测试运用此自动化测试分类技术不仅能提升 生产效率、减少人力需求，同时也增加了测试稳定度及测试良率。此外，其简洁的机台设计更可节省机台于测试厂之占地面积，帮助客户大幅降低生产成本。
产品功能与优势
主要特点
• 高信赖度之PnP自动化测试分类机
• x4 多盘置入自动测试分类
• 全方位(X/Y/Z/θ)可调式探针座模块
• 测式座产品堆栈检测
• x12输出分类盘可程序设定输出类别
• 全程实时良率显示与控制
• 全程探针接触状态显示(选配)
主要型号与技术规格
该系列共收录 1 个具体型号，以下为前 1 个（完整规格见详细指标页）。
• 3112 叙述 晶片测试分类机
资源下载
• 3112 详细指标见本页「详细指标」标签页。
• 官方 PDF（型录）：3112-EN.pdf
注：以上内容与指标均取自致茂电子（Chroma）官网该产品详情页与官方产品资料，未标注口径的为厂家公布值。
致茂电子（Chroma ATE Inc.） · onetest 仪器资源库
致茂 Chroma
3112 详细指标
12输出分类盘 · 4盘置入
详细指标
以下规格取自致茂 Chroma 官网该产品详情页型号表，共 1 个具体型号。
3112
• 叙述：晶片测试分类机
资源下载
• 3112 产品介绍见本页「产品介绍」标签页。
• 官方 PDF（型录）：3112-EN.pdf
注：以上内容与指标均取自致茂电子（Chroma）官网该产品详情页与官方产品资料，未标注口径的为厂家公布值。
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