AL6200 Die级芯片检测分选机(目检分选机) AL6200属于目检分选机类别
联讯仪器 AL6200 Die级芯片检测分选机主要应用于功率芯片裸Die的外观检测与分选分Bin,分选条件根据芯片不同测试规格以及外观瑕疵检测结果进行判定
系统一次最多支持八个不同条件档位,且在分选过程中支持对芯片进行六面外观瑕疵检测
系统支持芯片Frame Ring来料,Tape & Reel出料,且支持扩展Tray出料方式
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