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BI6202 CoC老化系统|联讯仪器 (在产)

BI6202 CoC老化系统(CoC老化系统) BI6202属于CoC老化系统类别

联讯仪器BI6202系列老化测试系统是专为激光器芯片老化测试而设计的高密度、多功能老化测试系统

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系统与解决方案

联讯仪器 Semight
CoC老化系统 BI6202
联讯仪器BI6202系列老化测试系统是专为激光器芯片老化测试而设计的高密度、多功能老化测试系统。
产品简介
联讯仪器BI6202系列老化测试系统是专为激光器芯片老化测试而设计的高密度、多功能老化测试系统。
核心参数
• 驱动电源:支持最多8448路标准电源
• 导热性强:热沉温度均匀性偏差≤±1.0℃(40~100℃)
• 温度控制能力强:每个夹具有独立的加热、控温、监控、超温保护和散热单元,更节能
• 鱼骨型夹具设计:支持CoC在夹具上打金线
• 安全可靠性:驱动板可有效消除对被测芯片造成损害的潜在问题,包括EOS等
• 在线功率监测:支持在线功率监控选项配置,LIV或EA扫描,具备Ith分析能力,测试重复性<±1%
• 4224个CoC同时老化:产能可根据客户需求进行弹性配置
• 软件功能丰富:所有测试结果、状态和异常记录均自动保存至数据库,支持数据存储和结果追溯
功能与优势
特殊的温度控制结构,具有极佳的导热特性
• CoC、CoS 抽屉及夹具
产品图片
典型应用场景
面向CoC老化、可靠性验证等应用场景。
• CoC老化
• 可靠性验证
资源下载
• BI6202 详细指标见本页「详细指标」标签页。
注:以上内容与指标取自苏州联讯仪器股份有限公司官网该产品详情页与官方数据手册。
联讯仪器 · onetest 仪器资源库

 

 

联讯仪器 Semight
CoC老化系统 BI6202 详细指标
联讯仪器BI6202系列老化测试系统是专为激光器芯片老化测试而设计的高密度、多功能老化测试系统。
产品简介
联讯仪器BI6202系列老化测试系统是专为激光器芯片老化测试而设计的高密度、多功能老化测试系统。
技术指标
该型号官网未附独立规格表,以下为官方产品页公布的参数与特性指标。
产品特点
• 驱动电源:支持最多8448路标准电源
• 导热性强:热沉温度均匀性偏差≤±1.0℃(40~100℃)
• 温度控制能力强:每个夹具有独立的加热、控温、监控、超温保护和散热单元,更节能
• 鱼骨型夹具设计:支持CoC在夹具上打金线
• 安全可靠性:驱动板可有效消除对被测芯片造成损害的潜在问题,包括EOS等
• 在线功率监测:支持在线功率监控选项配置,LIV或EA扫描,具备Ith分析能力,测试重复性<±1%
• 4224个CoC同时老化:产能可根据客户需求进行弹性配置
• 软件功能丰富:所有测试结果、状态和异常记录均自动保存至数据库,支持数据存储和结果追溯
功能与优势
• 特殊的温度控制结构,具有极佳的导热特性:CoC、CoS 抽屉及夹具
资源下载
• BI6202 产品介绍见本页「产品介绍」标签页。
说明
以上指标摘自苏州联讯仪器股份有限公司官网该产品详情页与官方数据手册;若与随机文件不一致,以随箱文件为准。
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