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高性能数模混合信号测试系统 ST2500EX
支持 1024 数字通道、250Mbps 与 500Mbps 数据速率的高性能数模混合信号测试系统。
产品简介
ST2500EX 是高性能数模混合信号测试系统,支持 1024 数字通道配置。系统采用 Direct Docking / Cable Mount 连接方式,可以兼容 J Type 针卡,降低客户转平台治具成本。ST2500EX 还具有灵活的可扩展性,可搭载无线综测仪、RF 测试模块及各类高性价比解决方案。
ST2500EX 高性能数模混合信号测试系统可以广泛应用于 SoC/MCU、FLASH、EEPROM、CIS、AIoT、LED Driver、FPGA、Sensor 等半导体晶圆、器件测试和模块系统级测试。
核心参数
• 数字通道:支持 1024 数字通道配置
• 数据速率:250Mbps / 500Mbps
• 板卡容量:单机头最高可配置 32 块板卡,用户可根据测试需求灵活配置
• 连接方式:Direct Docking / Cable Mount,兼容 J Type 针卡,降低转平台治具成本
• 配套治具:提供配套公用 loadboard,缩短客户产品硬件开发周期
• 可扩展性:可搭载无线综测仪、RF 测试模块及各类高性价比解决方案
• 开发软件:ST-IDE 软件,提供 AWG、DGT、Pattern、LA 等开发和调试工具
• 图形转换:配套 WGL、STIL、VCD 等仿真文件转换工具,同时支持友商平台 pattern 转换
• 量产与运维:工厂专用 GUI 与数据记录分析工具;智能软硬件监控系统提供故障代码定位
产品关键特性
• 系统支持 250Mbps / 500Mbps 数据速率
• 单机头最高可配置 32 块板卡,用户可以根据测试需求灵活配置板卡
• 可以兼容 J Type 针卡,降低客户转平台治具成本
• 提供配套公用 loadboard,可以缩短客户产品硬件开发周期
• 系统采用 Direct Docking / Cable Mount 连接方式,增加晶圆测试稳定性
• 系统集成 ST-IDE 软件提供用户友好的开发环境,丰富的开发和调试工具(AWG、DGT、Pattern、LA 等),降低产品开发调试到量产交付生产周期
• 配套丰富的 pattern 转换工具,方便 WGL、STIL、VCD 等仿真文件转换为测试机 pattern,同时支持友商平台 pattern 转换,有效提高调试效率
• 针对工厂量产提供专门 GUI,数据实现显示监控,提供丰富的数据记录分析工具,支持定制化工厂系统连接方案,方便批量测试和对接工厂管理系统
• 智能软硬件监控系统,提供故障代码,精确定位软硬件故障位置
型号与配置
• 板卡配置:单机头最高 32 块板卡,按测试需求灵活配置
• 连接方式:Direct Docking / Cable Mount
典型应用场景
• SoC/MCU 芯片测试
• FLASH、EEPROM 存储器件测试
• CIS 图像传感器测试
• AIoT 模组测试
• LED Driver 驱动芯片测试
• FPGA 测试
• Sensor 传感器测试
资源下载
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