客服
3504-60 C测试仪
封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等
高速测量2ms
能根据C 和D（损耗系数*2）的测量值，进行被测物合格与否的判断
对应测试线，比较器功能/触发输出功能
3504-60/-50用BIN的分选接口进行被测物体的测试
核心指标：测量范围 C:0.9400pF～20.0000mF
测量频率 120Hz
ONETEST 欢迎您
厂商登录 | 入驻
登录 | 注册 购物车 微信公众号厂商登录
同厂商产品
ZC3001 高速多通道切换搭载半导体继电器，高速又耐用可支持频率 最大10MHz切换时间 1ms用PLC的I/O输出控制
CN010 电压偏置测试系统半导体器件的直流偏置特性研究，适用于SiC、GaN、MLCC的偏压测试丰富的选件，覆盖广泛测试需求的硬件系统整体的性能评价和预先验证，为客户提供可靠准确的测试方案友好的图表显示界面，即时的数据保存，提高开发效率
9268-10 DC偏置电压单元直接连接型，40Hz至8MHz，最大外加电压DC±40V
- «
- 1
- »
3504-60 C测试仪|日置 (在产)
产品描述
详细指标
软件和手册|白皮书
购买渠道
选件
问大家
视频
测评
口碑
系统与解决方案
日置 · HIOKI
3504-60 C测试仪
封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等
产品简介
封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等。3504-60 是 日置 官网 C测试仪 栏目下的产品。
产品特点
• 高速测量2ms
• 能根据C 和D （损耗系数*2）的测量值，进行被测物合格与否的判断
• 对应测试线，比较器功能/触发输出功能
• 3504-60/-50用BIN的分选接口进行被测物体的测试
• 3504-40记录工具，实现高速/低成本的测试
• 查出全机测量中的接触错误，提高成品率
核心指标
• 测量参数：Cs,Cp（电容）,D（损耗系数tanδ）
• 测量范围：C:0.9400pF～20.0000mF
• 基本精度：（代表值）C: ±0.09% rdg. ±10 dgt., D: ±0.0016
• 测量频率：120Hz, 1kHz
• 测量信号电平：恒压模式: 100mV (仅限3504-60)， 500 mV, 1 V
• 输出电阻：5Ω（CV测量范围以外的开路端子电压模式时）
• 显示：发光二级管 （6位表示，满量程计算器根据量程而定）
• 测量时间：典型值: 2.0 ms （ 1 kHz, FAST）
• 功能：BIN分类测量 (3504-40除外), 触发同步输出, 测量条件记忆, 测量值的比较功能, 平均值功能, Low-C筛选功能, 振动功能, 控制用输出输入 (EXT. I/O), RS-232C接口（标配), GP-IB接口(3504-40除外)
• 电源：AC 100/120/220/240V ±10%（可选择）, 50/60Hz, 最大110VA
资源下载
• 详细指标请见 3504-60 C测试仪 详细指标页。
注：本页内容与指标整理自日置官网该产品详情页及其官方资料；选配、可选功能以厂家最终配置为准。
日置HIOKI · onetest 仪器资源库
日置 · HIOKI
3504-60 C测试仪
详细指标
产品简介
封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等。3504-60 是 日置 官网 C测试仪 栏目下的产品。
详细指标
基本参数
• 测量参数：Cs,Cp（电容）,D（损耗系数tanδ）
• 测量范围：C:0.9400pF～20.0000mF
D:0.00001～1.99000
• 基本精度：（代表值）C: ±0.09% rdg. ±10 dgt., D: ±0.0016
※测定精度= 基本精度× B× C× D× E, B～E为各系数
• 测量频率：120Hz, 1kHz
• 测量信号电平：恒压模式: 100mV (仅限3504-60)， 500 mV, 1 V
测量范围:
CV
100mV:～ 170μF 量程 (测量频率 1kHz), ～ 1.45mF 量程 (测量频率 120Hz)
CV
500mV: ～ 170μF 量程 (测量频率 1kHz), ～ 1.45mF 量程 (测量频率 120Hz)
CV
1V: ～ 70μF 量程 (测量频率 1kHz), ～ 700μF 量程 (测量频率 120Hz)
• 输出电阻：5Ω（CV测量范围以外的开路端子电压模式时）
• 显示：发光二级管 （6位表示，满量程计算器根据量程而定）
• 测量时间：典型值: 2.0 ms （ 1 kHz, FAST）
※测量时间根据测量频率、测量速度的不同而不同
• 功能：BIN分类测量 (3504-40除外), 触发同步输出, 测量条件记忆, 测量值的比较功能, 平均值功能, Low-C筛选功能, 振动功能, 控制用输出输入 (EXT. I/O), RS-232C接口（标配), GP-IB接口(3504-40除外)
• 电源：AC 100/120/220/240V ±10%（可选择）, 50/60Hz, 最大110VA
• 体积及重量：260W × 100H × 220Dmm, 3.8kg
• 附件：电源线×1，预备电源保险丝×1，使用说明书×1
选件与型号
测试冶具或电缆
• SMD测试治具9699 用于底部有电极的SMD DC~120MHz，测试样品 尺寸：宽1.0~4.0mm，高1.5mm以下
• SMD测试治具9677 用于侧面有电极的SMD DC~120MHz，测试样品 尺寸：3.5mm±0.5mm
• SMD测试治具9263 直接连接型, DC～5 MHz 测试尺寸: 1mm～10.0mm
• 测试治具9262 DC～8 MHz, 直接连接型
• 测试治具9261 电缆连接型, DC ～ 5 MHz, 1m长
• 镊形探头L2001 线长73cm，DC～8MHz，50Ω，前端电极间隔：0.3～6mm
• 4端子测试探头 9140 DC～100kHz, 1m长
打印机
• 打印机 9442 数码打印
• AC适配器9443-02 适用于打印机9442
• 连接电缆 9444 适用于9442, 线长:1.5 m
• 记录纸 1196 112mm x 25m, 10卷/盒
PC 通讯器
• GP-IB连接线9151-02 2m长
资源下载
注：本页内容与指标整理自日置官网该产品详情页及其官方资料；选配、可选功能以厂家最终配置为准。
日置HIOKI · onetest 仪器资源库
全部
日置官方渠道
厂家联系方式
公司：日置（上海）测量技术有限公司
地址：上海市黄浦区西藏中路268号来福士广场4705室
电话：021-63910090
全国客服热线：400-920-6010
邮编：200001
维修服务
维修服务中心：上海市黄浦区西藏中路268号来福士广场4705室
维修邮箱：weixiu@hioki.com.cn
分支机构
北京：北京市朝阳区东三环北路5号北京发展大厦11层1118-1119室
广州：广州市天河区天河北路235号广州环贸中心3502C单元
深圳：深圳市福田区深南中路3031号汉国城市商业中心3202室
成都：成都市锦江区琉璃路8号华润广场B座1607室
苏州：苏州市虎丘区金山东路79号13幢苏州龙湖中心1901室
0条提问
X
提问
X
回答
暂无视频
0条口碑
X
发表口碑
粤公网安备44030902003758