Y.CUBE R 是 YTTEK 面向液晶可重构智能表面(LC-RIS)推出的测量系统(YTOT 系列),用于表征 RIS 表面对入射电磁波的响应特性
系统可测量反射系数、透射系数与相移等基础参数,为 RIS 器件研发与验证提供关键数据
在辐射特性评估方面,系统采用近场与远场两类测量技术:近场扫描(如近场探头)用于捕获表面附近的细致信息,远场测量则提供一定距离外的辐射场数据,用于评估 LC-RIS 的辐射方向图与方向性
系统整合配套软件与集成方案,适用于无线通信系统(5G 及以后)的信号覆盖与容量增强、雷达与感知系统的波束赋形及隐身技术、卫星通信与物联网设备的天线设计与优化,以及光子器件中的光传播控制等研究方向

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