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工作波长 1260 至 1640nm
实现多工位测试、数据分析与测报生成等功能
支持 WDM、AWG、PLC、Z-Block 等不同类型光学产品的测试
插损不确定度 ±0.1dB（连接头测试）
扫描时间 10s
测试指标覆盖 IL、RIPPLE、PDL、ADJ、NADJ、CWL、BW、TDL、CROSSTALK
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Santec扫描测试系统 1260至1640nm WDM/AWG/PLC|光泰通信 (在产)
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系统与解决方案
光泰通信 Brightas · 深圳光泰通信设备有限公司
Santec扫描测试系统
santec 可调谐光源 + 偏振控制器 + 功率计 · 支持 WDM/AWG/PLC/Z-Block
产品简介
系统由santec可调谐光源+santec偏振控制器+santec功率计组成。算法基于santec官方算法，二次开发实现多工位测试、分析数据及测报生成等功能。
图：测试界面示意图
官方定位：作为光泰通信的光无源器件测试系统产品，Santec扫描测试系统 面向光通信器件研发、批量生产与测试场景，覆盖光无源器件与光模块的产线检测需求。
核心参数
• 工作波长：1260 至 1640 nm
• 测试指标：IL/RIPPLE/PDL/ADJ/NADJ/CWL/BW/TDL/CROSSTALK
• 插损（IL）不确定度：±0.1 dB（连接头测试）
• 测量模式：可调光源 + 高速功率计
• 扫描时间：10 s
• 可测产品类型：WDM、AWG、PLC、Z-Block
主要特点
系统由santec可调谐光源+santec偏振控制器+santec功率计组成。
算法基于santec官方算法，二次开发实现多工位测试、分析数据及测报生成等功能。
支持不同类型的光学产品测试，如WDM、AWG、PLC、Z-Block等。
资源下载
• 详细指标：全部技术指标已单独整理，详见 Santec扫描测试系统 详细指标页
onetest仪器资源库 · 光泰通信 Santec扫描测试系统
光泰通信 Brightas · 深圳光泰通信设备有限公司
Santec扫描测试系统 · 详细指标
santec 可调谐光源 + 偏振控制器 + 功率计 · 支持 WDM/AWG/PLC/Z-Block
产品简介
系统由santec可调谐光源+santec偏振控制器+santec功率计组成。算法基于santec官方算法，二次开发实现多工位测试、分析数据及测报生成等功能。
官方规格表
下表按光泰通信官网 Santec扫描测试系统 产品页规格表整理；未特别说明均为典型值。
• 工作波长：1260 至 1640 nm
• 测试指标：IL/RIPPLE/PDL/ADJ/NADJ/CWL/BW/TDL/CROSSTALK
• 插损（IL）不确定度：±0.1 dB（连接头测试）
• 测量模式：可调光源 + 高速功率计
• 扫描时间：10 s
• 可测产品类型：WDM、AWG、PLC、Z-Block
注：以上参数取自光泰通信官网该产品页规格表，完整指标与适用条件以官方资料为准。
资源下载
• 产品介绍：产品定位、核心参数与主要特点详见 Santec扫描测试系统 产品介绍页
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