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面向存储器大批量老化的测试系统，以高达 10MHz 频率并行测试多个老化板，B6700 单机可并行测试多达 48 块老化板
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B6700 系列 存储器老化测试系统|爱德万测试 (在产)
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系统与解决方案
爱德万测试 Advantest · 株式会社爱德万测试（Advantest Corporation）
B6700 系列 存储器老化测试系统
10MHz 并行测试 · 最多 48 块老化板并行 · 高性能腔体高频精度 · 三种配置
产品简介
B6700 系列是存储器老化测试仪。芯片制造商需要一个快速、大批量的老化测试解决方案，以满足客户不断增长的需求；B6700 系列通过以高达 10MHz 的频率并行测试多个老化板来满足这一需求，同时结合多年积累的存储器测试功能，在老化过程中运行测试以改进测试过程。
系列包含 B6700（标准型）、B6700ES（工程型，功能整合到更小配置中）与 B6700S（零占用空间配置，将 B6700 功能嵌入单个晶圆级测试的多晶圆探测系统）。
官方定位：10MHz 并行测试 · 最多 48 块老化板并行 · 高性能腔体高频精度 · 三种配置
核心参数
• 并行老化板：B6700 最多 48 块
• 测试频率：高达 10MHz
• 腔体：独创高性能腔体，产生高温的同时确保高温精度
• 温度性能：缩短温度上升与下降时间，减少测试时间
• 系列型号：B6700、B6700ES（工程）、B6700S（零占用空间）
大批量老化能力
• 以高达 10MHz 频率并行测试多个老化板
• B6700 可并行测试多达 48 块老化板
• 帮助存储器供应商更快将最新产品推向市场并降低测试成本
温控性能
• 独创高性能腔体确保高温精度，提高良率
• 缩短升降温时间，减少测试时间
三种配置覆盖不同阶段
• B6700ES 将全部功能整合到较小配置，缩短研发到生产的周转时间（TAT）
• B6700S 为 NAND 闪存提供低成本的零占用空间方案
典型应用场景
• NAND 闪存与 DRAM 大批量老化测试
• 存储器件可靠性验证
• 工程阶段老化测试（B6700ES）
• 晶圆级嵌入式老化测试（B6700S）
资源下载
• 详细指标：全部技术指标已单独整理，详见 B6700 系列 详细指标页
onetest仪器资源库 · 爱德万测试 B6700 系列
爱德万测试 Advantest · 株式会社爱德万测试（Advantest Corporation）
B6700 系列 · 详细指标
10MHz 并行测试 · 最多 48 块老化板并行 · 高性能腔体高频精度 · 三种配置
产品简介
面向存储器大批量老化的测试系统，以高达 10MHz 频率并行测试多个老化板，B6700 单机可并行测试多达 48 块老化板。
官方定位：10MHz 并行测试 · 最多 48 块老化板并行 · 高性能腔体高频精度 · 三种配置
核心规格
• 并行老化板：B6700 最多 48 块
• 测试频率：高达 10MHz
• 腔体：独创高性能腔体，产生高温的同时确保高温精度
• 温度性能：缩短温度上升与下降时间，减少测试时间
• 系列型号：B6700、B6700ES（工程）、B6700S（零占用空间）
大批量老化能力
• 以高达 10MHz 频率并行测试多个老化板
• B6700 可并行测试多达 48 块老化板
• 帮助存储器供应商更快将最新产品推向市场并降低测试成本
温控性能
• 独创高性能腔体确保高温精度，提高良率
• 缩短升降温时间，减少测试时间
三种配置覆盖不同阶段
• B6700ES 将全部功能整合到较小配置，缩短研发到生产的周转时间（TAT）
• B6700S 为 NAND 闪存提供低成本的零占用空间方案
典型应用场景
• NAND 闪存与 DRAM 大批量老化测试
• 存储器件可靠性验证
• 工程阶段老化测试（B6700ES）
• 晶圆级嵌入式老化测试（B6700S）
官方产品页指标原文
• B6700系列可以通过以高达10 MHz的频率并行测试多个老化板，从而满足这一需求。
• B6700能够以高达10MHz的频率并行测试多达48块老化板，有助于存储器供应商以更快速度将其最新产品推向市场，同时降低测试成本。
注：以上指标按爱德万测试中国站产品页与其公开手册整理，未特别说明者为厂商标称值；如官网与手册冲突以厂商最新发布为准。
资源下载
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• 网址 https://www.advantest.com/cn/
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