专为ADC测试设计的测试机台，覆盖高速、低速，高精度ADC测试需求，支持LVDS和204B接口，满足大规模量产测试需求。测试产品：高速ADC芯片/高精度ADC芯片测试模式：1-site测试模拟通道数：8路模拟通道数字通道数：64路数字通道最高采样率：最高3GHz数据传输方式：LVDS/204B/SPI通讯协议：SECS/GE

X115 10MHz至9GHz 端口18个 DiFEM测试机 |派格测控

专为DiFEM射频模组测试研发的测试机台，大大提升了测试速度，可以有效应对自动化测试中DiFEM的各种测试对象和测试要求。测试产品：DiFEM模组测试模式：1-site测试RF 端口数：18个频率范围：10MHz~9GHz中频带宽：1Hz-1MHz最大支持点数：100001通讯协议：SECS/GEM

同厂商产品

X670 运放和数字隔离芯片测试机 |派格测控 (在产)

专为各种运算放大器研发的测试机台，具有大范围信号带宽支持和优秀的非线性测试能力，测试能力稳定，抗干扰性强。

测试产品：运放芯片

测试模式：1-site测试

测试稳定性：更稳定的测试能力和抗干扰性

非线性测试：优秀的非线性测试能力

带宽扩展：大范围信号带宽支持

通讯协议：SECS/GEM

参考价格：

厂家：派格测控|南京派格测控科技有限公司（收录11个产品）

产地：中国

厂家官网

产品官网

产品描述

详细指标

软件和手册|白皮书

购买渠道

选件

问大家

视频

测评

口碑

系统与解决方案

专为各种运算放大器研发的测试机台，具有大范围信号带宽支持和优秀的非线性测试能力，测试能力稳定，抗干扰性强。

测试产品：运放芯片

测试模式：1-site测试

测试稳定性：更稳定的测试能力和抗干扰性

非线性测试：优秀的非线性测试能力

带宽扩展：大范围信号带宽支持

通讯协议：SECS/GEM

典型指标

测试产品：运放芯片	测试模式：1-site测试
测试稳定性：更稳定的测试能力和抗干扰性	非线性测试：优秀的非线性测试能力
带宽扩展：大范围信号带宽支持	通讯协议：SECS/GEM

测试项目

测试产品：运放芯片	测试模式：1-site测试
测试稳定性：更稳定的测试能力和抗干扰性	非线性测试：优秀的非线性测试能力
带宽扩展：大范围信号带宽支持	通讯协议：SECS/GEM

关键词:

厂家联系方式：

185-1603-1327

pgsales@pgtec.cn / pgmarket@pgtec.cn

南京市江北新区研创园华富路1号数智溪谷1号楼5楼

关键词:

0条提问

提问

回答

关键词:

0条口碑

发表口碑

口碑标题

上传图片