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GTA5520 激光二极管测试系统具备LIV、光谱、偏振度测试功能。整套系统采用自动化控制,实现高功率COS 芯片的一站式测试,具有高精度、高可靠性、性价比高及测试速度快等优势,适用于COS 芯片厂家的批量生产测试。• 稳定性高• 自动识别基板序列号• 自动上料和筛选分料
● 适用工作频率范围为700MHz-6GHz;●在700MHz到6GHz工作频率范围内射频隔离度大于60dB;●这个屏蔽箱是为射频传导和OTA射频测试而设计的,特别是为手机、耳塞和手表;●它是一个大规模生产的解决方案,适用于GPS、蜂窝(高达sub6)、BT、WIFI、WIFI6e和UWB等;●定制的支架可以支持不同的DUT。大的开口角度支持更大的DUT,如扬声器、modern和路由器;●支持的DUT尺寸可以达到9英寸。

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多功能自动测试系统专门为中小型光纤无源器件厂家设计的,可测试隔离器,WDM,耦合器,环形器等器件的性能参数。本系统可自动测试的指标包括:插入损耗、PDL、回损,隔离度,分光比等各种参数指标,通过上位机软件实现指标测试、不合格数据报警、自动存储、打印输出等功能。
DWDM集成自动测试系统是专门为测试和分析各种DWDM设备或模块而设计的。该系统可以自动测试DWDM器件或模块的插入损耗、PDL、背损耗、中心波长偏移、带宽、纹波、相邻/非相邻通道隔离等参数,支持不同温度下的测试。通过实现指标测试、不合格数据报警、自动存储、打印输出等功能
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BOSA器件测试系统 蝶形/同轴/TO封装 PIV/LIV测试|Zewda众望达 (在产)

PIV/LIV测试仪是耦合/测量半导体激光器(LD)主要性能参数和特性指标的仪器。通过给受试LD提供不同的工作电流,采集不同工作条件下受试LD的各种参数信号,计算得出该LD的L-I、V-I、Im-I、dL/dI特性参数曲线,以及阈值电流、Kink点、SE等参数;

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Zewda众望达
BOSA器件测试系统
半导体激光器 PIV / LIV 参数自动测试系统
产品简介
PIV/LIV测试仪是耦合/测量半导体激光器(LD)主要性能参数和特性指标的仪器。通过给受试LD提供不同的工作电流,采集不同工作条件下受试LD的各种参数信号,计算得出该LD的L-I、V-I、Im-I、dL/dI特性参数曲线,以及阈值电流、Kink点、SE等参数;支持测试数据和图形保存,并可自动将测试数据导出至Excel文件,测试速度快,精度高,可大幅提高用户测试效率
Ith、Po,Vf,Im、Rs、Pslope SE等以及各种定点查
主要参数
• 主要采集参数:驱动电流、电压、光功率、背光电流
• 主要计算参数:Ith、Po,Vf,Im、Rs、Pslope SE 等以及各种定点查
• 驱动电流:120 mA
• 背光电流:2500 u A
• 正向电压:3 V
• MPD 暗电流:100 nA
• 校准功能:用户可自行校准功率、电流、电压、背光
• 通讯接口:RS232 通讯接口,可开放通信协议由客户自行编写上位机软件
以上为部分主要参数,完整指标请见详细指标页。
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详细指标请见 BOSA器件测试系统 详细指标页。

 

 

Zewda众望达
BOSA器件测试系统
详细指标
产品简介
PIV/LIV测试仪是耦合/测量半导体激光器(LD)主要性能参数和特性指标的仪器。通过给受试LD提供不同的工作电流,采集不同工作条件下受试LD的各种参数信号,计算得出该LD的L-I、V-I、Im-I、dL/dI特性参数曲线,以及阈值电流、Kink点、SE等参数;支持测试数据和图形保存,并可自动将测试数据导出至Excel文件,测试速度快,精度高,可大幅提高用户测试效率
详细指标
技术指标
• 主要采集参数:驱动电流、电压、光功率、背光电流
• 主要计算参数:Ith、Po,Vf,Im、Rs、Pslope SE 等以及各种定点查
• 驱动电流:120 mA
• 背光电流:2500 u A
• 正向电压:3 V
• MPD 暗电流:100 nA
• 校准功能:用户可自行校准功率、电流、电压、背光
• 通讯接口:RS232 通讯接口,可开放通信协议由客户自行编写上位机软件
• 功率计测试波长:800 / 1700 nm
• 工作电压:110 / 220 / 260 VAC
• 功耗:30 W
• 工作温度:0 / 40 ℃
• 储藏温度:-40 / 80 ℃
※ 说明
· 以上指标依据 Zewda众望达 官网产品页公布的参数表整理。
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公司:深圳市众望达光电有限公司

地址:广东省深圳市宝安区石岩街道松白路北大科创园A9栋1楼

热线电话:0755-86196560

王小姐:13818184618

张先生:13923732392

企业邮箱:sales@zewda.com


 

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