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    1

    RFID标签芯片测试系统|中科国技 (在产)

    参考价格 ：

    厂家：中科国技|北京中科国技信息系统有限公司 （收录14个产品）

    产地：中国

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    北京中科国技信息系统有限公司 · 无线通信测试仪

    标签芯片测试系统

    RFID 标签芯片验证测试系统
    数十万量级
    自动生成测试序列
    万级/小时
    覆盖性测试速度
    三大功能
    协议分析 / 覆盖性 / 灵敏度
    IQ 数据采集
    协议交互分析
    产品定位

    标签芯片测试系统是一款集控制、测试与分析于一体的测试方案，面向 RFID 标签芯片研发验证，包含协议分析测试、覆盖性测试与芯片灵敏度测试三大功能。

    系统开放完整的物理层参数与协议命令参数，可自由定义协议命令序列，验证芯片状态机跳转；覆盖性测试可自动生成数十万量级测试序列并高速执行，结果以概率统计雷达图呈现，便于快速定位问题方向。

    核心参数
    · 功能构成：协议分析测试、覆盖性测试、芯片灵敏度测试
    · 协议分析参数：开放完整的物理层参数与协议命令参数，可自由定义协议命令序列
    · 协议分析能力：实时 IQ 数据采集，支持逐步分析协议交互过程；支持国标和行业标准的加密命令测试
    · 覆盖性测试：自定义测试需求，自动生成数十万量级测试序列集合；自动化测试，每小时万级测试速度
    · 结果呈现：概率统计雷达图显示，可导出详细测试报告
    · 灵敏度测试：检测宽频带内标签芯片灵敏度及反向功率变化；开放多数物理层及协议层参数进行多参数灵敏度测试
    产品特点
    · 协议分析测试
    – 开放完整的物理层参数，验证芯片在不同物理层参数配置下的标准符合性
    – 开放完整的协议命令参数，可自由定义协议命令序列，验证芯片状态机跳转
    – 实时 IQ 数据采集，供测试人员逐步分析协议交互过程的问题
    – 支持国标和行业标准的加密命令测试
    · 覆盖性测试
    – 自定义测试需求，自动生成数十万量级的测试序列集合
    – 自动化测试，以每小时万级的测试速度进行覆盖性验证，无需测试人员值守
    – 测试结果以概率统计的方式雷达图显示，快速定位问题方向
    – 可导出详细测试报告，分析参数对测试结果的具体影响
    · 芯片灵敏度测试
    – 自定义测试需求，检测宽频带内标签芯片灵敏度及反向功率变化
    – 开放多数物理层及协议层参数，可对标签芯片进行多参数灵敏度测试
    – 支持自动化测试路径损耗校准
    资源下载
    · 本页仅列出核心参数，完整技术指标请见本页「详细指标」标签页。
    北京中科国技信息系统有限公司 · onetest 仪器资源库
    本文由 onetest 仪器资源库依据厂商公开资料整理，参数以厂商正式资料为准。

     

     

    北京中科国技信息系统有限公司 · 无线通信测试仪

    标签芯片测试系统 · 详细指标

    RFID 标签芯片验证测试系统
    产品简介

    标签芯片测试系统是一款集控制、测试与分析于一体的测试方案，面向 RFID 标签芯片研发验证，包含协议分析测试、覆盖性测试与芯片灵敏度测试三大功能。

    系统开放完整的物理层参数与协议命令参数，可自由定义协议命令序列，验证芯片状态机跳转；覆盖性测试可自动生成数十万量级测试序列并高速执行，结果以概率统计雷达图呈现，便于快速定位问题方向。

    完整技术指标
    · 功能构成：协议分析测试、覆盖性测试、芯片灵敏度测试
    · 协议分析参数：开放完整的物理层参数与协议命令参数，可自由定义协议命令序列
    · 协议分析能力：实时 IQ 数据采集，支持逐步分析协议交互过程；支持国标和行业标准的加密命令测试
    · 覆盖性测试：自定义测试需求，自动生成数十万量级测试序列集合；自动化测试，每小时万级测试速度
    · 结果呈现：概率统计雷达图显示，可导出详细测试报告
    · 灵敏度测试：检测宽频带内标签芯片灵敏度及反向功率变化；开放多数物理层及协议层参数进行多参数灵敏度测试
    协议分析测试
    – 开放完整的物理层参数，验证芯片在不同物理层参数配置下的标准符合性
    – 开放完整的协议命令参数，可自由定义协议命令序列，验证芯片状态机跳转
    – 实时 IQ 数据采集，供测试人员逐步分析协议交互过程的问题
    – 支持国标和行业标准的加密命令测试
    覆盖性测试
    – 自定义测试需求，自动生成数十万量级的测试序列集合
    – 自动化测试，以每小时万级的测试速度进行覆盖性验证，无需测试人员值守
    – 测试结果以概率统计的方式雷达图显示，快速定位问题方向
    – 可导出详细测试报告，分析参数对测试结果的具体影响
    芯片灵敏度测试
    – 自定义测试需求，检测宽频带内标签芯片灵敏度及反向功率变化
    – 开放多数物理层及协议层参数，可对标签芯片进行多参数灵敏度测试
    – 支持自动化测试路径损耗校准
    北京中科国技信息系统有限公司 · onetest 仪器资源库
    本文由 onetest 仪器资源库依据厂商公开资料整理，参数以厂商正式资料为准。

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    中科国技官方渠道


    厂家联系方式

    公司：北京中科国技信息系统有限公司

    电话：010-59799882

    传真：010-59799882

    电邮：sales@hwa-tech.com

    总部：北京市海淀区蓝靛厂东路2号院金源时代商务中心2号楼B座10B

    上海：上海市浦东新区金吉路778号浦发江程广场1幢825室

    西安（研发中心）：陕西省西安市未央区大明宫街道永华路与永庆路交叉口百寰国际6楼6002


     

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