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致力于满足自动驾驶、服务器、数据中心、人工智能等关键领域大功率（<1500W）逻辑芯片的动态老化测试
系统通过施加极致的电、热应力，提前揭示时间维度上的潜在缺陷，将芯片的卓越设计转化为经得起时间考验的可靠产品，为逻辑器件的生产筛选、工程特性分析以及寿命测试提供稳定可靠的解决方案
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主要针对于汽车电子、医疗设备、5G通信、航空航天、数据中心、AI智能等关键领域芯片的动态老化测试系统搭载高效电源系统、多通道高频IO、高精度控温架构，已经开发出JH5905A/JH5915A/JH59150A系列机台，可覆盖从50W中低功率到1000W以上高功率芯片进行动态老化测试，适用于各类规格
先进的高性能老化测试系统，能够对汽车电子、医疗设备、5G通信等关键领域的低功率（≤5W）逻辑芯片进行动态老化测试，适用于逻辑器件的生产筛选、工程特性分析以及寿命测试等应用
JH59150A Series 逻辑芯片自动化测试系统|武汉精测 (在产)
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系统与解决方案
武汉精测 武汉精测电子集团股份有限公司
JH59150A Series 逻辑芯片自动化测试系统
数字/模拟芯片测试 · 数字芯片测试
产品简介
致力于满足自动驾驶、服务器、数据中心、人工智能等关键领域大功率（<1500W）逻辑芯片的动态老化测试。系统通过施加极致的电、热应力，提前揭示时间维度上的潜在缺陷，将芯片的卓越设计转化为经得起时间考验的可靠产品，为逻辑器件的生产筛选、工程特性分析以及寿命测试提供稳定可靠的解决方案。
核心参数
• 设备尺寸（W×D×H）：4000 × 2000 × 2400 mm
• 供电：AC380 V 50/60 Hz，90 A×2 路
• 支持产品功率：≤1500 W
• 腔室 / Zone / Slot：2 腔 / 12 Zone / 12 Slot
• 温度设定范围：RT+10 至 150 ℃
资源下载
• JH59150A Series 逻辑芯片自动化测试系统 的全部技术指标已单独整理，见本产品详情页「详细指标」标签。
以上内容与指标均取自武汉精测（武汉精测电子集团股份有限公司）官网该产品详情页与官方产品资料，未标注口径的为厂家公布值。
武汉精测电子集团股份有限公司 · onetest 仪器资源库
武汉精测 武汉精测电子集团股份有限公司
JH59150A Series 逻辑芯片自动化测试系统 详细指标
数字/模拟芯片测试 · 数字芯片测试
详细指标
指标取自厂家官网该产品页的规格表截图，按原图转写，未做换算。
整机
• 设备尺寸（W×D×H）：4000 × 2000 × 2400 mm
• 供电：AC380 V 50/60 Hz，90 A×2 路
• 支持产品功率：≤1500 W
• 腔室 / Zone / Slot：2 腔 / 12 Zone / 12 Slot
• 温度设定范围：RT+10 至 150 ℃
电源
• 输出能力：0 至 2 V/200 A 200 W×16 CHS；0.4 至 10 V/30 A 80 W×8 CHS；48 V/65 A 3200 W×2 CHS
• 设置、回读精度：0.3%±10 mV
• 分辨率：1 mV
• 保护：OVP、UVP、OCP
• 设置：支持同步、分步上下电
IO
• 通道数：256 通道全双向
• 驱动电流：100 mA
• 频率：10 MHz
• 电平：-2 至 6 V
• 分组：4 组
• 向量深度：64 M
控温
• 控温方式：独立温控
• 控温精度：±3 ℃
武汉精测官网 www.wuhanjingce.com 产品页与官方产品手册，采集于 2026-10-22
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