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WST 垂直探针卡|武汉精测 (在产)
产品描述
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武汉精测 武汉精测电子集团股份有限公司
WST 垂直探针卡
半导体测试接口/互连 · 互连组件
产品简介
用于MCU、CPU、GPU、SOC、AI算力等芯片的CP测试。
核心参数
• 探针材质（Probe Material）：Cobra（P7/H3C）/ JYT2DMS25~80（合金）
• 最大针数（Max Pitch Count）：1500
• 对位精度（Alignment）：XY：±8/±15 μm；Z：＜20 μm
• IO 漏电（IO Leakage）：＜10 nA@DC10 V
• 最高测试频率（Max Test Frequency）：约 50 MHz@-10 dB
资源下载
• WST 垂直探针卡 的全部技术指标已单独整理，见本产品详情页「详细指标」标签。
以上内容与指标均取自武汉精测（武汉精测电子集团股份有限公司）官网该产品详情页与官方产品资料，未标注口径的为厂家公布值。
武汉精测电子集团股份有限公司 · onetest 仪器资源库
武汉精测 武汉精测电子集团股份有限公司
WST 垂直探针卡 详细指标
半导体测试接口/互连 · 互连组件
详细指标
指标取自厂家官网该产品页的规格表截图，按原图转写，未做换算。
主要技术参数
• 探针材质（Probe Material）：Cobra（P7/H3C）/ JYT2DMS25~80（合金）
• 最大针数（Max Pitch Count）：1500
• 对位精度（Alignment）：XY：±8/±15 μm；Z：＜20 μm
• IO 漏电（IO Leakage）：＜10 nA@DC10 V
• 最高测试频率（Max Test Frequency）：约 50 MHz@-10 dB
• 使用寿命（Service Life）：约 100 万次（~100 W）
武汉精测官网 www.wuhanjingce.com 产品页与官方产品手册，采集于 2026-10-22
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