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QP3000 是全自动晶圆探针台,适用于 8、12 英寸 Si、SiC 分立器件、功率器件、集成电路、射频器件、光芯片等晶圆的自动探针测试,支持自动上下片与 Wafer ID 读取

参考价格 :
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联动科技|佛山市联动科技股份有限公司
QP3000
8/12 英寸 · 绝缘 8 KV/600 A · XY 340×765 mm · 自动换针卡
产品简介
QP3000 是全自动晶圆探针台,适用于 8、12 英寸 Si、SiC 分立器件、功率器件、集成电路、射频器件、光芯片等晶圆的自动探针测试,支持自动上下片与 Wafer ID 读取。
核心参数
• 晶圆尺寸:8、12 英寸
• 晶圆重量:最大 200 g
• 绝缘电压与电流:电压 8 KV、600 A(脉冲)
• XY 轴工作范围:340 mm × 765 mm
• Z 轴工作行程:37 mm
功能特性
• 全自动 CCD 视觉对针定位
• 高精度定位平台
• 支持常高温测试
• 实时生成 Mapping 显示 Bin
• 通用 GPIB、TTL、RS-232 接口
• 自动上下片,支持 Wafer ID 读取
• 自动切换针卡(Prober card 定位自动切换)
• 双臂洁净陶瓷机械手,大尺寸磨针清针机构
• 光栅尺、伺服双闭环高精度设计
应用场景
• 适用晶圆:SiC、GaN、Si 晶圆的 8、12 英寸产品
• 适用器件:IC 及大功率芯片、数模混合/SoC、汽车电子/电源产品、CIS/MEMS
• 扩展:高压测试防打火模块、高温模块、遮光模块、WAT 测试
资源下载
• QP3000 的全部技术指标已单独整理,见本产品详情页「详细指标」标签。
以上内容与指标均取自联动科技(佛山市联动科技股份有限公司)官网该产品详情页与官方产品资料,未标注口径的为厂家公布值。
佛山市联动科技股份有限公司 · onetest 仪器资源库

 

 

联动科技|佛山市联动科技股份有限公司
QP3000 详细指标
8/12 英寸 · 绝缘 8 KV/600 A · XY 340×765 mm · 自动换针卡
详细指标
晶圆尺寸与功能来自官网;轴系精度、配置与公用工程取自图册第 23 页。
晶圆与精度
• 晶圆尺寸:8、12 英寸
• 晶圆重量:最大 200 g
• 绝缘电压与电流:电压 8 KV、600 A(脉冲)
• XY 轴工作范围:340 mm × 765 mm
• Z 轴工作行程:37 mm
• θ 轴工作行程:±5°
• F 轴行程:39 mm
• XY 轴最大速度:X 300 mm/s、Y 230 mm/s
• F 轴最大速度:18 mm/s
• XY 轴分辨率:0.1 μm
• XY 轴定位精度:≤±2 μm
• Z 轴定位精度:≤±2 μm
• Z 轴重复精度:≤±1 μm
• Z 轴分辨率:0.1 μm
• θ 轴分辨率:0.000282°
• F 轴分辨率:1 μm
配置
• 探针卡类型:圆形或方形探卡
• 晶圆 ID 识别:有,SEMI 标准(OCR)
• 自动切换针卡:支持 Probe Card 定位自动切换
• 磨针/清针:大尺寸磨针清针机构
• 对接:Hard Docking,适配不同测试机头
软件与 MAP
• MAP:兼容 TEL/TSK 格式,自动 Mapping 编辑、导入、导出
• Bin MAP:TEL/TSK 格式、62 bin、导入、导出
公用工程
• 电源:AC 200 至 240 V,2 KW(不含热盘加热功率)
• 气源:CDA 0.4 至 0.7 MPa,流量 18 L/min
• 真空:-80 kPa,流量 15 L/min
资源下载
联动科技官网 cn.powertechsemi.com 产品页与厂家中文图册《PowerTECH20251219》(2025-12 版),采集于 2026-10-22
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