适用于晶圆测试、光电器件测试、IC测试、射频测试、高压大电流的手动探针测试
高品质显微镜搭配高分辨率CCD系统,可清晰观察扎痕情况,提高扎针的准确性和扎针效率
针座磁吸固定可根据测试晶圆的不同进行适时调节
台面支持一键升降,使操作流程简单快捷
Chuck盘可以完全拉出台面,方便晶圆快速取放
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适用于晶圆测试、光电器件测试、IC测试、射频测试、高压大电流的手动探针测试
高品质显微镜搭配高分辨率CCD系统,可清晰观察扎痕情况,提高扎针的准确性和扎针效率
针座磁吸固定可根据测试晶圆的不同进行适时调节
台面支持一键升降,使操作流程简单快捷
Chuck盘可以完全拉出台面,方便晶圆快速取放

手动晶圆探针台
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手机:15908198086
电话:028-86045989
邮箱 :info@aatsr.cn
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