专为时钟芯片测试设计的旗舰机，支持高性能时钟芯片测试，性能经过市场考验，拥有行业领先的测试速度和测试能力。
测试产品：时钟缓冲器/频率合成器/锁相环
测试模式：1-site测试/2-site串测
RF端口数：12/18/24/32个
频率范围：1MHz~26GHz
最大输入功率：15dBm
特点：低相噪，高精度，高速度
通讯协议：SECS/GEM
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X420 1MHz至26GHz 12/18/24/32个 时钟芯片测试机|派格测控 (在产)
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专为时钟芯片测试设计的旗舰机，支持高性能时钟芯片测试，性能经过市场考验，拥有行业领先的测试速度和测试能力。
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测试模式：1-site测试/2-site串测
RF端口数：12/18/24/32个
频率范围：1MHz~26GHz
最大输入功率：15dBm
特点：低相噪，高精度，高速度
通讯协议：SECS/GEM
| 测试产品：时钟缓冲器/频率合成器/锁相环 | 测试模式：1-site测试/2-site串测 |
RF端口数：12/18/24/32个 | 频率范围：1MHz~26GHz |
最大输入功率：15dBm | 特点：低相噪，高精度，高速度 |
通讯协议：SECS/GEM |
测试项目
| OS | 漏流 | 功率 | 上升时间 |
| 频率 | 谐波 | 隔离度 | 下降时间 |
| 关断度 | 镜像抑制 | 相位噪声 | 杂波抑制 |
| CW附加功率效率 | 顶部平坦度 |
关键词:
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