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测试频率：2.0～40.0GHz（波导分段覆盖）
测试温度：室温～1100℃
测试范围；介电常数r：2.0～100.0
电损耗角正切tan：0.1～10.0
磁导率r：0.5～10.0；磁损耗角正切tan：0.1～2.0
测试误差；室温；|r/r| 8.0%
|r/r| 8.0%；|r/r| 18.0 %
样品尺寸；横向尺寸与同频段波导一致，厚度与频率、电磁参数相关
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测试频率：0.05～12.0GHz测试范围；磁导率mr¢：0～1000.0磁损耗角正切tandm：0.1～2.0测试误差；室温；|Δmr¢/mr¢| £ 10%样品尺寸：长度25.0mm，宽度2.0mm，厚度0.8mm
测试频率：2.0～110.0GHz测试范围：介电常数 r：2.0～100.0电损耗角正切tan：0.1～5.0测试误差:|r/r| 5.0% |tan| 10.0% tan + 0.002样品尺寸：（横向尺寸与同频段波导一致，厚度与介电参数相关）
测试频率：0.3～110.0GHz测试范围：介电常数r：2.0～100.0电损耗角正切tan：0.1～5.0磁导率r：0.5～10.0磁损耗角正切tan：0.1～2.0测试误差：|r/r| 8.0%|tan| 8.0% tan + 0.03|r/r| 8.0%|tan| 8.0% tan + 0.03样品尺寸：平板状样品，根据不同频率大小不同0.3～2.0GHz：长度≥1500mm，宽度≥1500mm，厚度10～100mm2.0～18.0GHz：长度300mm，宽度300mm，厚度1～5mm18.0GHz以上：长度180mm，宽度180mm，厚度1～5mm频率越高，样品尺寸可以越小
2.0至40.0GHz 波导传输反射法测试设备 |恩驰微波 (在产)
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系统与解决方案
波导传输反射法
测试频率：2.0～40.0GHz（波导分段覆盖）
测试温度：室温～1100℃
测试范围：
介电常数r：2.0～100.0
电损耗角正切tan：0.1～10.0
磁导率r：0.5～10.0
磁损耗角正切tan：0.1～2.0
测试误差：
室温：
|r/r| 8.0%
|tan| 8.0% tan + 0.03
|r/r| 8.0%
|tan| 8.0% tan + 0.03
1100℃：
|r/r| 18.0 %
|tan| 18.0% tan + 0.05
|r/r| 18.0 %
|tan| 18.0% tan + 0.05
样品尺寸：
横向尺寸与同频段波导一致，厚度与频率、电磁参数相关
全部
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业务部：唐女士/郭先生
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