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OLCR-1000 分布式光纤回损检测低相干光干涉仪 1550nm|光谷互连 (在产)

低相干光干涉仪OLCR-1000是一款基于白光干涉原理的分布式光纤回损检测系统,可用于光纤微裂纹、光学器件、光芯片反射信号的检测识别,相较于光频域反射仪具有成本低、测量精度高、耗时短的优势。

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光谷互连 · OVLINK
OLCR-1000 低相干光干涉仪
分布式光纤回损检测 · 1550nm
产品简介
低相干光干涉仪 OLCR-1000 是一款基于白光干涉原理的分布式光纤回损检测系统,可用于光纤微裂纹、光学器件、光芯片反射信号的检测识别,相较于光频域反射仪具有成本低、测量精度高、耗时短的优势。
性能特点
• 秒级测量,快速输出测量结果
• 微米级定位,精确识别各种反射事件
• 高精度回损测量,准确输出各反射事件回损
• 亚米级测量范围,更大测量长度可定制
适用领域
• 光缆 & 光跳线微裂纹检测
• 光器件 & 光芯片内部反射测量与定位
技术参数
OLCR-1000 低相干光干涉仪 官方正文配图 image.png
核心参数
• 工作波长:1310 & 1550 nm
• 测量长度:50 cm 其他测量长度可定制
• 单次测量耗时 <:15 s
• 回损测量范围:10至90 dB
• 回损精度:±3 dB
• 空间分辨率:20 μm
• 空间精度:0.3 mm
• 输入电压 AC:220 V
• 引纤长度:1 m 引纤长度可定制
• 重量:7.0 Kg
资源下载
• OLCR-1000 详细指标见 OLCR-1000 详细指标页。
注:以上内容与指标均取自光谷互连官网该产品页及其官方数据手册,未标注口径的为厂家公布值。
光谷互连 OVLINK · onetest 仪器资源库

 

 

光谷互连 · OVLINK
OLCR-1000 低相干光干涉仪 详细指标
分布式光纤回损检测 · 1550nm
低相干光干涉仪 OLCR-1000 是一款基于白光干涉原理的分布式光纤回损检测系统,可用于光纤微裂纹、光学器件、光芯片反射信号的检测识别,相较于光频域反射仪具有成本低、测量精度高、耗时短的优势。
主要特点:秒级测量,快速输出测量结果;微米级定位,精确识别各种反射事件;高精度回损测量,准确输出各反射事件回损;亚米级测量范围,更大测量长度可定制;光缆 & 光跳线微裂纹检测;光器件 & 光芯片内部反射测量与定位。
性能特点
• 秒级测量,快速输出测量结果
• 微米级定位,精确识别各种反射事件
详细指标
• 工作波长:1310 & 1550 nm
• 测量长度:50 cm 其他测量长度可定制
• 单次测量耗时 <:15 s
• 回损测量范围:10至90 dB
• 回损精度:±3 dB
• 空间分辨率:20 μm
• 空间精度:0.3 mm
• 输入电压 AC:220 V
通讯接口 RJ45 /
• 引纤长度:1 m 引纤长度可定制
• 光纤接口 FC/APC /
• 尺寸 W444 * D350 *H112 mm
• 重量:7.0 Kg
注:以上内容与指标均取自光谷互连官网该产品页及其官方数据手册,未标注口径的为厂家公布值。
资源下载
• OLCR-1000 产品介绍见 OLCR-1000 产品介绍页。
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