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应用于芯片、器件、模块/组件在-55°C~+125°C高低温环境下自动化测试、分选;设备配备高低温试验箱(分别提供高温和低温试验环境)、高低温运动平台、料盘周转系统、高低温视觉系统和自动测试软件;可实现自动上下料和在高温和低温环境下并行测试,保证产品测试的可靠性和连续性;自动进行高低温测试切换,无须人工干预。
·支持全流程自动测试功能,且界面实时反馈工作状态及报警信息·支持多种产品快速切换,且操作便捷·支持后续产品品类无限拓展·支持灵活配置软件TPS,以满足不同测试流程切换、补充·支持高低温状态管脚正反辨识·支持测试数据自动采集、存储、MES/云端上传

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Chroma 3270是一款创新的微型IC测试分类机,特别适合CMOS影像感应元件(CMOS Image Sensor, CIS)量产所需,Chroma 3270可配合多种不同的封装类型包括传统的QFP、TQFP、μBGA、PGA及CSP封装。
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3260 3 mm x 3 mm - 45 mm x 45 mm三温系统级测试机 -40 °C 至 150 °C|致茂电子Chroma (在产)

Chroma 3260 Full Range ATC系统级测试(SLT)分选机具备坚固的六站式架构,支持-40 °C至150 °C的三温测试,冷却能力高达1,800W。

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系统与解决方案

致茂 Chroma
3260 三温系统级测试机
3 mm x 3 mm – 45 mm x 45 mm · -40 °C 至 150 °C
产品简介
Chroma 3260 Full Range ATC系统级测试(SLT)分选机具备坚固的六站式架构,支持-40 °C至150 °C的三温测试,冷却能力高达1,800W。搭载三温Sea Cobra-E Gen 1热引擎,可提供TSD功能,实现精确的T-junction监控以及快速、实时的温度回馈。
该系统亦可搭载高功率PTC模块,在高达450W的热负载下,仍能将装置温度维持于80 °C以下。3260三温SLT测试分选机提供灵活的测试模式,不仅可同时进行多站测试,亦能针对不同测试站设定独立的温度条件。根据不同应用情境,可快速切换温度条件,有效缩短等待时间。针对如PoP及RF测试等进阶测试场景所优化,3260可在严苛的热环境中提供高速、可靠且一致的测试效能。
产品功能与优势
主要特点
• 最大封装尺寸:3 mm x 3 mm – 45 mm x 45 mm 选配项目: 3 mm x 3 mm – 55 mm x 55 mm
• 3 mm x 3 mm – 70 mm x 70 mm
• 稳定可靠的高速取放式分选机
• 同步双吸嘴取放设计
• 空气阻尼器确保接触平衡
• 装置防护功能(卡料 / 余料检测、测试座温度控制)
• 智能良率优化系统
• 支持堆栈封装(PoP)测试方案
• 整合射频(RF)测试能力
• 通用转换治具设计
• 兼容三温测试:-40 °C 至 150 °C,具快速温度反馈系统
• 高功率 PTC 模块:450 W热负载下Device温度维持低于80 °C
▲ 温度切换时间
3260 三温系统级测试机 官方图示
主要型号与技术规格
该系列共收录 1 个具体型号,以下为前 1 个(完整规格见详细指标页)。
• 3260 叙述 三温系统级测试机
资源下载
• 3260 详细指标见 3260 详细指标页。
• 官方 PDF(型录):3260-SC.pdf
注:以上内容与指标均取自致茂电子(Chroma)官网该产品详情页与官方产品资料,未标注口径的为厂家公布值。
致茂电子(Chroma ATE Inc.) · onetest 仪器资源库

 

 

致茂 Chroma
3260 详细指标
3 mm x 3 mm – 45 mm x 45 mm · -40 °C 至 150 °C
详细指标
以下规格取自致茂 Chroma 官网该产品详情页型号表,共 1 个具体型号。
3260
• 叙述:三温系统级测试机
资源下载
• 3260 产品介绍见 3260 产品介绍页。
• 官方 PDF(型录):3260-SC.pdf
注:以上内容与指标均取自致茂电子(Chroma)官网该产品详情页与官方产品资料,未标注口径的为厂家公布值。
致茂电子(Chroma ATE Inc.) · onetest 仪器资源库

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邮箱:info@chromaate.com

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