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应用于芯片、器件、模块/组件在-55℃~+125℃高低温环境内的自动化测试、分选;实现高低温实验箱内循环预温、自动取放料、自动测试、自动分选、数据分析等功能,保证产品测试的可靠性和连续性。专利高低温视觉系统,高低温环境下实时对器件进行识别、定位、OCR识别等;智能的高低温运动控制算法,支持Socket快换;快速温变率≥5℃/min(可选配温变率更高或更低的温箱)。

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3110-FT 设定温度范围-40℃至125℃三温测试分类机 1至10kg|致茂电子Chroma (在产)

Chroma 3110-FT为一台适用于IC终端测试(Final Test)工程产品特性及测试开发用途之测试分类设备。

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系统与解决方案

致茂 Chroma
3110-FT 三温测试分类机
设定温度范围-40℃至125℃ · 1到10kg
产品简介
Chroma 3110-FT为一台适用于IC终端测试(Final Test)工程产品特性及测试开发用途之测试分类设备。
3110-FT支持多种芯片测试,可支持的芯片尺寸从3x3mm到45x45mm。亦可加选远程监控功能,操作者得以在任何地点透过网络操作以增加设备使用率。3110-FT三温测试分类机同时包含预温区,可改善测试时间及产出;配有2个自动分料盘及2个手动分料盘,在仅1.4m²的空间发挥最佳的IC分料能力以节省成本与时间。
产品功能与优势
主要特点
• 适用于终端测试 (Final Test)
• 可设定温度范围-40℃至125℃
• 支持的芯片尺寸从3x3mm到45x45mm
• 具有4个产品分类料盘
• 支持远程控制操作
• 具有测试良率控制功能
• 具有连续自动重测功能
• 具有实时监控产品分类功能
• 整合Chroma混合型冰水机
• 支持TSD温度控制
• 最佳工程三温特性测试平台
• UPH最高可达500pcs
• 控制下压触力在1到10kg (选配)
• Socket温度补偿模块 (选配)
• 可支授系统层级测试 (SLT) (选配)
整合Chroma混合型冰水机与TEC致冷芯片温度控制器后,3110-FT可于进行测试三温测试时,同时控制壳温及接面温度。
3110-FT可支持大部分产业的标准通信接口以及提供不同种类测试设备的对接方式。可精准控制温度范围从-40℃到125℃。具有易于操作的软件接口以及可快速更换待测产品之设计。将可大幅缩短停机时间而进一步提高使用效率及产能。
3110-FT 三温测试分类机 官方图示
主要型号与技术规格
该系列共收录 1 个具体型号,以下为前 1 个(完整规格见详细指标页)。
• 3110-FT 叙述 三温测试分类机
资源下载
• 3110-FT 详细指标见本页「详细指标」标签页。
• 官方 PDF(型录):3110-FT-SC.pdf
注:以上内容与指标均取自致茂电子(Chroma)官网该产品详情页与官方产品资料,未标注口径的为厂家公布值。
致茂电子(Chroma ATE Inc.) · onetest 仪器资源库

 

 

致茂 Chroma
3110-FT 详细指标
设定温度范围-40℃至125℃ · 1到10kg
详细指标
以下规格取自致茂 Chroma 官网该产品详情页型号表,共 1 个具体型号。
3110-FT
• 叙述:三温测试分类机
资源下载
• 3110-FT 产品介绍见本页「产品介绍」标签页。
• 官方 PDF(型录):3110-FT-SC.pdf
注:以上内容与指标均取自致茂电子(Chroma)官网该产品详情页与官方产品资料,未标注口径的为厂家公布值。
致茂电子(Chroma ATE Inc.) · onetest 仪器资源库

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