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Chroma 58604C的高密度、多功能，提供雷射二极体老化测试。
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58604-C 500mA高通道密度烧机及可靠度测试机|致茂电子Chroma (在产)
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系统与解决方案
致茂 Chroma
58604-C 高通道密度烧机及可靠度测试机
500mA
产品简介
Chroma 58604C的高密度、多功能，提供雷射二极体老化测试。每个模组可提供高达256个SMU通道，每个通道可透过软体，设定不同的电流值，并量测电压。每个机柜最高可容纳七层模组，达到1,792个SMU通道。
在自动电流/电压控制（ACC/AVC）模式下，控制电路可提供非常稳定的电流给每个雷射二极体。不管烧机中的雷射二极体有电压或者温度变化，烧机测试期间的供电流将保持预先设定好的固定值，电压值则会被量测并记录下来作为品质的参考依据。
产品功能与优势
主要特点
• 搭配烤箱使用，提供烧机测试、可靠度测试与寿命测试
• 支援自动电流控制模式 （ACC） 与自动电压控制模式（APC）
• 模组化设计提供最大的便利性与便于维护
• 完整的ESD防护
• 独立通道 (Channel) 驱动与量测
• 双极性电源量测单元
• 独家设计无突波输出
• 最高可达500mA单通道电流驱动
烧机测试、信赖性测试与寿命测试
自动电流/电压控制模式 （ACC）
独立抽屉模组操作
客户可以在不同的模组设定不同的电流条件、操作模式（ACC/AVC），以及不同的起始时间与老化期间。模组化独立控制所带来的好处，是提供更多的使用弹性，不同模组可同时测试不同的待测物，并且不产生电性间的干扰。
保护机制可以关闭个别通道
独特的电路设计使本系统可以在烧机的过程完整保护雷射二极体，不会有电流或电压的突波产生，意外造成待测物的伤害。每个通道可设定电流和电压的高/低限制，当触发限制时，可关闭个别通道以保护待测物。当异常发生时，系统将关闭特定引发异常的通道，其他正常通道可持续正常运作，直到完成预定的任务。除了上述的保护功能外，全通道的SMU也包含通道绝缘（Isolation）与静电（ESD）保护，形成完整的隔离防护。
自动断线重连与测试资料复原
烧机测试资料将储存在系统的本地电脑中或指定的远端伺服器。当模组与系统电脑通讯暂时中断时，资料可暂存于模组中达72小时以上（以每3分钟一笔量测资料计算），当通讯恢复连线之后，暂存于模组中的资料将自动写入系统电脑中或远端伺服器，不会发生资料遗失。
各种不同的雷射封装应用
双极性SMU可应对各种情境
主要型号与技术规格
该系列共收录 1 个具体型号，以下为前 1 个（完整规格见详细指标页）。
• 58604-C 叙述 高通道密度烧机及可靠度测试机
资源下载
• 58604-C 详细指标见 58604-C 详细指标页。
• 官方 PDF（型录）：58604-C-SC.pdf
注：以上内容与指标均取自致茂电子（Chroma）官网该产品详情页与官方产品资料，未标注口径的为厂家公布值。
致茂电子（Chroma ATE Inc.） · onetest 仪器资源库
致茂 Chroma
58604-C 详细指标
500mA
详细指标
以下规格取自致茂 Chroma 官网该产品详情页型号表，共 1 个具体型号。
58604-C
• 叙述：高通道密度烧机及可靠度测试机
资源下载
• 58604-C 产品介绍见 58604-C 产品介绍页。
• 官方 PDF（型录）：58604-C-SC.pdf
注：以上内容与指标均取自致茂电子（Chroma）官网该产品详情页与官方产品资料，未标注口径的为厂家公布值。
致茂电子（Chroma ATE Inc.） · onetest 仪器资源库
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