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Chroma 1810为针对磁性组件在功率消耗与温度影响关系所开发的测试设备，其具有直流电流源，可测试磁性组件的铜损损失；亦具有交流电压源，可测试磁性组件之铁损损失。
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1810 20kHz至1MHz磁性组件测试系统 60A|致茂电子Chroma (在产)
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系统与解决方案
致茂 Chroma
1810 磁性组件测试系统
20kHz至1MHz · 60A
产品简介
Chroma 1810为针对磁性组件在功率消耗与温度影响关系所开发的测试设备，其具有直流电流源，可测试磁性组件的铜损损失；亦具有交流电压源，可测试磁性组件之铁损损失。铜损与铁损为造成磁性组件温度上升的主要因素，温度过高会影响磁性组件之感量。质量粗劣的磁性组件之功率消耗较大，而其感量可能会随着温度上升而会较大幅度的下降，在应用上较容易发生电气异常现象，为高风险的产品。
Chroma 1810可同时提供交直流电源来测试磁性组件，透过温度计来量测其温度，并利用高频功率表来量测磁性组件在不同频率的功率损失，提供用户在做磁性组件材料开发分析使用，也可测试同一感量的组件在不同电气条件环境下所呈现的电气反应。Chroma 1810可配合软件来做长时间纪录磁性组件的温度变化与消耗功率，简易方便的操作可节省人力，且测试结果报告可作为分析的依据。Chroma 1810为分析磁性组件的最佳平台。
产品功能与优势
主要特点
• 高频弦波电压：20kHz至1MHz
• 直流重叠电流 (最大60A)
• 磁性组件功率损失侦测
• 磁性组件温度侦
• 软件控制支持
• 可依客户需求提供对应模块
主要型号与技术规格
该系列共收录 5 个具体型号，以下为前 5 个（完整规格见详细指标页）。
• 1810 叙述 磁性组件测试系统
• A118016 叙述 高频升压模块 250V/2A max.
• A118037 叙述 高频升流模块 33V/30A max.
• HF AC Tester 叙述 可程式高频交流测试器：Model 11802, 11803
• DC Source 叙述 可程控直流电源供应器：Model 62012P-80-60
资源下载
• 1810 详细指标见 1810 详细指标页。
注：以上内容与指标均取自致茂电子（Chroma）官网该产品详情页与官方产品资料，未标注口径的为厂家公布值。
致茂电子（Chroma ATE Inc.） · onetest 仪器资源库
致茂 Chroma
1810 详细指标
20kHz至1MHz · 60A
详细指标
以下规格取自致茂 Chroma 官网该产品详情页型号表，共 5 个具体型号。
1810
• 叙述：磁性组件测试系统
A118016
• 叙述：高频升压模块 250V/2A max.
A118037
• 叙述：高频升流模块 33V/30A max.
HF AC Tester
• 叙述：可程式高频交流测试器：Model 11802, 11803
DC Source
• 叙述：可程控直流电源供应器：Model 62012P-80-60
资源下载
• 1810 产品介绍见 1810 产品介绍页。
注：以上内容与指标均取自致茂电子（Chroma）官网该产品详情页与官方产品资料，未标注口径的为厂家公布值。
致茂电子（Chroma ATE Inc.） · onetest 仪器资源库
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