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WDM 综合测试系统工作波长 1260 至 1620nm，综合测试主机可同时兼容 CWDM、DWDM 等产品测试。宽带光源与光谱分析仪四工位分时复用，一次接线即可执行 OSA 扫描测试（可调光源扫描）与单点 IL、PDL、INRL、OUTRL、DIR 等参数测试。插损不确定度 ±0.05dB（焊接测试）／±0.1dB（连接头测试），PDL 不确定度 ±0.03dB，单次扫描时间 6 至 8s（AQ6370D，步距 0.1nm）。WDM 产品可计算 IL、RIP、ADJ、NADJ、CWL、DCWL，FBT 产品可计算 IL_Min、IL_Max、WDL 等参数。
WDM/FBT 综合测试系统工作波长 1260 至 1620nm，兼容扫描与点测 WDM 器件及 1×2、2×2 Coupler。宽带光源与光谱分析仪四工位分时复用，一次接线即可执行 OSA 扫描测试与单点 IL、PDL、INRL、OUTRL、DIR 等参数测试。插损不确定度 ±0.05dB（光纤熔接测试）／±0.1dB（连接头测试），PDL 不确定度 ±0.03dB，单次扫描时间 6 至 8s。WDM 产品可计算 IL、RIP、ADJ、NADJ、CWL、DCWL，FBT 产品可计算 IL_Min、IL_Max、WDL 等参数，自动判定结果并批量生成出货报表。
Santec 扫描测试系统由 santec 可调谐光源、santec 偏振控制器与 santec 功率计组成，工作波长 1260 至 1640nm。算法基于 santec 官方算法二次开发，实现多工位测试、数据分析与测报生成等功能。支持 WDM、AWG、PLC、Z-Block 等不同类型光学产品的测试，插损不确定度 ±0.1dB（连接头测试），扫描时间 10s，测试指标覆盖 IL、RIPPLE、PDL、ADJ、NADJ、CWL、BW、TDL、CROSSTALK。
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FTBx-5245/5255 1250至1650nm 现场用光谱分析仪|EXFO (在产)
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系统与解决方案
EXFO · EXFO Inc.
FTBx-5245-5255-Field 现场用光谱分析仪
波长范围 FTBx-5245: 1250 至 1650; F… · 动态范围 FTBx-5245: –80 k 至 18; FT… · 波长不确定度 FTBx-5245: ±0.05 b , ±0.0…
产品简介
FTBx-5245/5255 不仅提供了实现最高现场效率所需的所有工具，还提升了测试的可靠性、准确性和速度。该设备兼容 FTB-1v2 Pro、FTB-4 Pro、LTB-8 和 LTB-12 平台。
核心参数
• 波长范围（nm）：FTBx-5245: 1250 至 1650; FTBx-5255: 1250 至 1650 nm
• 动态范围（dBm）（per channel）：FTBx-5245: –80 k 至 18; FTBx-5255: –80 k 至 18; HPW option: –75 k 至 23 dBm
• 波长不确定度（nm）：FTBx-5245: ±0.05 b , ±0.01 b, c, d ; FTBx-5255: ±0.025 b , ±0.010 b, c, d nm
• 重量：1.2 kg (2.6 lb)
• 尺寸（高×宽×深）：51 mm x 159 mm x 185 mm (2 in x 6 1/4 in x 7 5/16 in)
• Reference：FTBx-5245: Internal e ; FTBx-5255: Internal e
• Resolution bandwidth (RBW)（nm）：FTBx-5245: 0.065 d, g ; FTBx-5255: 0.035 b, d , b, d, h nm
• Wavelength linearity（nm）：FTBx-5245: ±0.01 d, i ; FTBx-5255: ±0.01 d, i nm
功能与特点
• 适用于 100G/200G/400G 的可靠在线极化复用 OSNR 测量（FTBx-5255）
• 业界唯一一款覆盖所有应用场景的一体化 OSA：高速（100G+ 在线 OSNR 等）、CWDM、O 波段和 L 波段测试等。
• 用于 DWDM/CWDM 网络光谱表征的便携式解决方案
• 业界最小的单平台 OSA/传输解决方案（FTB-4 Pro）
• 符合 IEC 61282-12 标准的极化复用 OSNR 选件
• FTB-4 Pro 平台配备 10 英寸大屏幕
典型应用
• Spectral Analysis
• OSNR
• xWDM networks
资源下载
• 详细指标：全部技术指标已单独整理，详见 FTBx-5245-5255-Field 现场用光谱分析仪 详细指标页
onetest仪器资源库 · EXFO FTBx-5245-5255-Field 现场用光谱分析仪
EXFO · EXFO Inc.
FTBx-5245-5255-Field 现场用光谱分析仪 · 详细指标
波长范围 FTBx-5245: 1250 至 1650; F… · 动态范围 FTBx-5245: –80 k 至 18; FT… · 波长不确定度 FTBx-5245: ±0.05 b , ±0.0…
产品简介
FTBx-5245/5255 不仅提供了实现最高现场效率所需的所有工具，还提升了测试的可靠性、准确性和速度。该设备兼容 FTB-1v2 Pro、FTB-4 Pro、LTB-8 和 LTB-12 平台。
本页按官方规格资料分组收录 FTBx-5245-5255-Field 现场用光谱分析仪 的全部关键技术指标；产品定位、特性与应用场景请见 FTBx-5245-5255-Field 产品介绍页。
技术指标
技术规格
• 波长范围（nm）：FTBx-5245: 1250 至 1650; FTBx-5255: 1250 至 1650 nm
• 波长不确定度（nm）：FTBx-5245: ±0.05 b , ±0.01 b, c, d ; FTBx-5255: ±0.025 b , ±0.010 b, c, d nm
• Reference：FTBx-5245: Internal e ; FTBx-5255: Internal e
• Resolution bandwidth (RBW)（nm）：FTBx-5245: 0.065 d, g ; FTBx-5255: 0.035 b, d , b, d, h nm
• Wavelength linearity（nm）：FTBx-5245: ±0.01 d, i ; FTBx-5255: ±0.01 d, i nm
• Wavelength repeatability 2σ（nm）：FTBx-5245: ±0.003 j ; FTBx-5255: ±0.003 j nm
• Analysis mode：FTBx-5245 and FTBx-5255: WDM, EDFA, drift, spectral transmittance, DFB, FP
• Optical rejection ratio (dB) m at 0.2 nm (25 GHz) at 0.4 nm（50 GHz）：FTBx-5245: 35 (40 typical) at 0.2 nm; 45 (50 typical) at 0.4 nm FTBx-5255 / HPW option: 45 (50 typical) at 0.2 nm; 50 (55 typical) at 0.4 nm
• Channel spacing：FTBx-5245: 25 至 200 GHz, CWDM; FTBx-5255: 12.5 至 200 GHz, CWDM
• 偏振相关损耗（PDL）（dB）：FTBx-5245: ±0.08 d ; FTBx-5255: ±0.06 d ; HPW option: ±0.1 d dB
• ORL（dB）：FTBx-5245: ≥40; FTBx-5255: ≥40 dB
• Measurement time (s)（includes scanning analysis and display）：FTBx-5245 and FTBx-5255: d, n s
• 动态范围（dBm）（per channel）：FTBx-5245: –80 k 至 18; FTBx-5255: –80 k 至 18; HPW option: –75 k 至 23 dBm
• Maximum total safe power（dBm）：FTBx-5245: 23; FTBx-5255: 23; HPW option: 29 dBm
• Absolute power uncertainty（dB）：FTBx-5245: ±0.5 l ; FTBx-5255: ±0.5 l ; HPW option: ±0.5 l dB
• Power repeatability 2σ（dB）：FTBx-5245: ±0.02 j ; FTBx-5255: ±0.02 j ; HPW option: ±0.02 j dB
• In-band OSNR measurement：Available on FTBx-5245-P only and FTBx-5255
• OSNR dynamic range（dB）：FTBx-5245-P only: >35 o ; FTBx-5255: >35 o dB
• OSNR measurement uncertainty（dB）：FTBx-5245-P only: ±0.5 p ; FTBx-5255: ±0.5 p dB
• OSNR repeatability（dB）：FTBx-5245-P only: ±0.2 q ; FTBx-5255: ±0.2 q dB
• Data signals（in-band OSNR）：FTBx-5245-P only: Up 至 100 Gbit/s r ; FTBx-5255: Up 至 100 Gbit/s r
• Pol-Mux OSNR measurement：Commissioning assistant
• Modulation formats（Pol-Mux OSNR）：Any, including all coherent/Pol-Mux formats like DP-QPSK, DP-BPSK, DP-8-QAM, DP-16-QAM, DP-64-QAM
• Data signals（Pol-Mux OSNR）：Up 至 400 Gbit/s
• Measurement time（Pol-Mux OSNR）：1 min and 40 s (100 scans) for trace with all channels on a, b ; <5 s for traces with a single channel off
• In-service Pol-Mux OSNR a：Available on FTBx-5255
• OSNR dynamic range (dB)（in-service Pol-Mux）：FTBx-5255: 30 dB
• OSNR measurement uncertainty (dB)（in-service Pol-Mux）：FTBx-5255: ±0.5 d, e, f dB
• 可重复性（dB）（in-service Pol-Mux）：FTBx-5255: ±0.3 d, e dB
a. All specifications are for a temperature of 23 °C ± 2 °C with an FC connector, unless otherwise specified, after warm-up. Measurements taken using FTB-4 Pro. b. From 1520 to 1610 nm. c. After user calibration in the same test session, within 10 nm from user calibration wavelength. d. Typical. e. Integrated and wavelength independent. f. Full-width half-maximum. g. From 1300 to 1590 nm. h. Optimized for higher order modulation format signals. i. From 1530 to 1570 nm. j. At 1550 nm, in drift mode. Single scan every 2 seconds, over 2 minutes. With DFB laser. k. With averaging. l. At 1550 nm, –10 dBm input. m. At 1550 nm, with narrow monochromatic light source. n. 45 nm span, full resolution, 20 peak. On FTB-2 Pro. o. For an optical noise level of > –55 dBm, > –49 dBm for HPW models. p. With PMD ≤15 ps and no crosstalk, uncertainty specification is valid for OSNR ≤ 25 dB. With PMD ≤ 15 ps and crosstalk, uncertainty specification is valid for OSNR ≤ 20 dB. q. Valid for OSNR ≤ 25 dB. r. Except for polarization-multiplexed and fast polarization-scrambled signals. a. Typical. b. 1525 nm to 1570 scan. On the FTB-4 Pro platform. c. For an optical noise level of > –55 dBm in 0.1 nm RBW. d. For signal rates e. Up to 25 dB of OSNR. f. Up to ±1.5 dB when there is the presence of combined typical network variations in nonlinear effects, relative signal or filter wavelength drifts.
通用规格
• 尺寸（高×宽×深）：51 mm x 159 mm x 185 mm (2 in x 6 1/4 in x 7 5/16 in)
• 重量：1.2 kg (2.6 lb)
• Temperature operating：0 ℃ 至 40 ℃ (32 ℉ 至 104 ℉)
• Temperature storage：–40 ℃ 至 50 ℃ (–40 ℉ 至 122 ℉)
• 相对湿度：0 % 至 95 % noncondensing
• Connectors：EI (EXFO UPC universal interface); EA (EXFO APC universal interface)
a. Typical.
注：以上指标摘自 EXFO 官网公开产品规格资料，未特别说明均为典型值；指标可能随硬件与软件版本变化，恕不另行通知。官方规格书中以字母标注的脚注（测试条件）未在本页展开，完整条件请以原规格书为准。
onetest仪器资源库 · EXFO FTBx-5245-5255-Field 现场用光谱分析仪 详细指标
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深圳分公司与工厂
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电话：+86-755-8203-2300 传真：+86-755-8203-2306
EXFO Telecom Equipment (Shenzhen) Ltd.
地址：广东省深圳市宝安区福海街道新田社区新田大道71-3号 F1–F3（邮编 518103）
电话：+86-755-29553100
授权经销商（官网「中国」区所列）
Great Engineering Technology Corporation CO. LTD.（GETECH） 电话：0800-802-206 邮箱：service@getech.com.tw 网址：www.getech.com.tw
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WeiTECH Communication Co., Ltd. 电话：+886-2-2223-8800
总部与全球分支机构
EXFO 公司总部：400 Godin Avenue, Quebec, Quebec G1M 2K2, Canada 电话：+1 418-683-0211 免费电话：+1 800-663-3936 传真：+1 418-683-2170
EXFO 协议业务部门（蒙特利尔）：2500 Boul. Alfred-Nobel, Saint-Laurent, Quebec H4S 0A9, Canada 电话：+1 514-856-2222 免费电话：+1 888-972-7666
EXFO 芬兰：Elektroniikkatie 2, FI-90590 Oulu, Finland 电话：+358 (0) 403 010 300
EXFO America Inc.：612 Spring Hill Drive, Suite 180, Spring, TX 77386-6045, USA 电话：+1 972-761-9271
EXFO Europe Ltd.：Winchester House, School Lane, Chandlers Ford, SO53 4DG, UK 电话：+44-2380-246-800
EXFO Asia Pacific PTE Ltd.：229 Mountbatten Road #02-26 Mountbatten Square, Singapore 398007 电话：+65-6333-8241 传真：+65-6333-8242
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