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PXIe模块化矢量网络分析仪集射频信号测试和分析功能于一体，频率覆盖30kHz-40GHz，可扩展至57GHz，适配毫米波器件测试，凭借轻量化模块化设计与优异射频性能，广泛应用于元器件研发、产线自动化校准等场景。主要指标：频率范围 30kHz-40GHz（可扩展至57GHz）；最大输出功率 +13dBm；动态范围 ≥90dB（全频段）。
TH2852系列射频阻抗分析仪/TH2853系列射频阻抗测试仪也彻底超越了国内外同类仪器3GHz的频率瓶颈；解决了国外同类仪器只能分析、无法单独测试的缺陷；中英文操作界面也解决了国外仪器仅有英文界面的尴尬；采用单测和分析两种界面，让测试更简单。
TH2852系列射频阻抗分析仪/TH2853系列射频阻抗测试仪也彻底超越了国内外同类仪器3GHz的频率瓶颈；解决了国外同类仪器只能分析、无法单独测试的缺陷；中英文操作界面也解决了国外仪器仅有英文界面的尴尬；采用单测和分析两种界面，让测试更简单。
LCR1000A 1MHz至3GHz射频阻抗测试仪|玖锦 (在产)
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玖锦 JIUJIN · 成都玖锦科技有限公司
LCR1000A射频阻抗测试仪
1 MHz 至 3 GHz 射频阻抗测试 · 阻抗 140 mΩ–4.8 kΩ · 测量速度最快 2.2 ms/点
产品简介
LCR1000A射频阻抗测试仪 是成都玖锦科技有限公司的LCR，频率覆盖 1 MHz 至 3 GHz。 阻抗测试范围 140 mΩ-4.8 kΩ；基本测量精度高达 0.45%。
设备提供 3 类测量与分析能力：大规模元器件生产线自动化测试、元器件的质检和来料筛选、新型元器件研发认证和失效分析。支持程控与远程控制，便于集成到自动化测试系统。
官方定位：作为玖锦的LCR产品，LCR1000A 以 1 MHz 至 3 GHz 的频率覆盖与 大规模元器件生产线自动化测试、元器件的质检和来料筛选、新型元器件研发认证和失效分析 等测量能力面向射频和微波组件、半导体等应用场景。
核心参数
• 频率覆盖：1 MHz 至 3 GHz
• 频率范围：1 MHz~0.35 GHz/0.6 GHz/1.5 GHz/3 GHz
• 阻抗测试范围 140 mΩ-4.8 kΩ
• 基本测量精度高达 0.45%
• 测量速度高达 2.2 ms/点
• 全面兼容业界主流 LCR 表 SCPI指令集，且内置业界主流夹具的修正参数
• 国内首台基于射频I-V 测量法的 LCR 表，全面对标业界同类领先产品
主要功能
大规模元器件生产线自动化测试
随着无线通信技术的进步，元器件的阻抗测量范围不断扩大到数百赫兹甚至3 GHz。而电子产品以前所未有的速 度普及，导致元器件工厂的日产量跨过百万片级别。因此需要在保证测量准确性的前提下对元器件进行高效率的 测试，同时作为产线测试核心的仪器仪表须具备极高的可靠性。玖锦的LCR1000A射频阻抗测试仪的测量速 度快、工作稳定，完全符合生产线上对测试仪器高吞吐量、高可靠性的要求。 · 支持快速测量模式，高达2.2 ms/点的测量速度 · 支持8个表同时测量，每个表最多201个测试点 · 支持业界主流高精度夹具和校准件 · 内置机械手接口，适合全自动化生产线 · 全面兼容市场上主流的同类射频LCR表的SCPI指令 · 可靠性高，MTBF不小于5000小时
元器件的质检和来料筛选
元器件不断向高精度、高频段发展，这对其质检和筛选提出了更高要求。LCR1000A射频阻抗测试仪采用射频I-V测量方法进行阻抗测量，能够在1 MHz~3 GHz频率内对元器件进行精确测量；同时可根据不同的元器件自定义测量任务，灵活搭配待测参数，连接不同的夹具进行精密测量与结果分析。 · 支持所有常用的阻抗参数测量 · 最多支持13个Bin · 自定义被测参数devia-tion/limit · 提供兼顾测试精度与测试速度的通用测量模式 · 高级统计分析功能 · 高精度补偿功能和附件
新型元器件研发认证和失效分析
在新型元器件研发过程中，测量结果的精确度高低、设计细节的优劣直接决定研发的成败。而研发工程师对测试仪 器的多功能性有很高的要求，以便适应各种开发任务。玖锦LCR1000A凭借其极高的测试精度、丰富的测量功能，帮助广大研发工程师轻松应对挑战。 · 提供高精度测量模式，阻抗测量精度高达0.45% · 支持自产或业界主流高精度夹具 · 业界最主流的高精度校准件和补偿件 · 自定义的功能键/参数 · 列表扫描测量，表格和绘图格式 · 高级统计分析功能 · 10.4英寸LCD触摸屏
资源下载
• 详细指标：全部技术指标与测量能力已单独整理，详见 LCR1000A射频阻抗测试仪 详细指标页
以上参数、功能与配图均取自玖锦官网该产品页公开资料。
onetest仪器资源库 · 玖锦 LCR1000A射频阻抗测试仪
玖锦 JIUJIN · 成都玖锦科技有限公司
LCR1000A射频阻抗测试仪 · 详细指标
1 MHz 至 3 GHz 射频阻抗测试 · 阻抗 140 mΩ–4.8 kΩ · 测量速度最快 2.2 ms/点
产品简介
LCR1000A射频阻抗测试仪 是成都玖锦科技有限公司的LCR，频率覆盖 1 MHz 至 3 GHz。 阻抗测试范围 140 mΩ-4.8 kΩ；基本测量精度高达 0.45%。
官方定位：作为玖锦的LCR产品，LCR1000A 以 1 MHz 至 3 GHz 的频率覆盖与 大规模元器件生产线自动化测试、元器件的质检和来料筛选、新型元器件研发认证和失效分析 等测量能力面向射频和微波组件、半导体等应用场景。
关键指标
• 频率覆盖：1 MHz 至 3 GHz
• 频率范围：1 MHz~0.35 GHz/0.6 GHz/1.5 GHz/3 GHz
• 阻抗测试范围 140 mΩ-4.8 kΩ
• 基本测量精度高达 0.45%
• 测量速度高达 2.2 ms/点
• 全面兼容业界主流 LCR 表 SCPI指令集，且内置业界主流夹具的修正参数
• 国内首台基于射频I-V 测量法的 LCR 表，全面对标业界同类领先产品
测量能力与工作模式
大规模元器件生产线自动化测试
随着无线通信技术的进步，元器件的阻抗测量范围不断扩大到数百赫兹甚至3 GHz。而电子产品以前所未有的速 度普及，导致元器件工厂的日产量跨过百万片级别。因此需要在保证测量准确性的前提下对元器件进行高效率的 测试，同时作为产线测试核心的仪器仪表须具备极高的可靠性。玖锦的LCR1000A射频阻抗测试仪的测量速 度快、工作稳定，完全符合生产线上对测试仪器高吞吐量、高可靠性的要求。 · 支持快速测量模式，高达2.2 ms/点的测量速度 · 支持8个表同时测量，每个表最多201个测试点 · 支持业界主流高精度夹具和校准件 · 内置机械手接口，适合全自动化生产线 · 全面兼容市场上主流的同类射频LCR表的SCPI指令 · 可靠性高，MTBF不小于5000小时
元器件的质检和来料筛选
元器件不断向高精度、高频段发展，这对其质检和筛选提出了更高要求。LCR1000A射频阻抗测试仪采用射频I-V测量方法进行阻抗测量，能够在1 MHz~3 GHz频率内对元器件进行精确测量；同时可根据不同的元器件自定义测量任务，灵活搭配待测参数，连接不同的夹具进行精密测量与结果分析。 · 支持所有常用的阻抗参数测量 · 最多支持13个Bin · 自定义被测参数devia-tion/limit · 提供兼顾测试精度与测试速度的通用测量模式 · 高级统计分析功能 · 高精度补偿功能和附件
新型元器件研发认证和失效分析
在新型元器件研发过程中，测量结果的精确度高低、设计细节的优劣直接决定研发的成败。而研发工程师对测试仪 器的多功能性有很高的要求，以便适应各种开发任务。玖锦LCR1000A凭借其极高的测试精度、丰富的测量功能，帮助广大研发工程师轻松应对挑战。 · 提供高精度测量模式，阻抗测量精度高达0.45% · 支持自产或业界主流高精度夹具 · 业界最主流的高精度校准件和补偿件 · 自定义的功能键/参数 · 列表扫描测量，表格和绘图格式 · 高级统计分析功能 · 10.4英寸LCD触摸屏
说明
以上指标与测量能力摘自 玖锦官网 LCR1000A 产品页；该产品官方未提供独立规格书下载，若与随箱文件不一致，以随箱文件为准。
资源下载
• 产品介绍：产品定位、核心参数与典型应用详见 LCR1000A射频阻抗测试仪 产品介绍页
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• 电话 010-6871 5566
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• 电话 4000-029-016
• 地址 西安市高新区高新四路17号志诚商务C207室
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