Y.CUBE R 是 YTTEK 面向液晶可重构智能表面（LC-RIS）推出的测量系统（YTOT 系列），用于表征 RIS 表面对入射电磁波的响应特性。系统可测量反射系数、透射系数与相移等基础参数，为 RIS 器件研发与验证提供关键数据。在辐射特性评估方面，系统采用近场与远场两类测量技术：近场扫描（如近场探头）用于捕获表面附近的细致信息，远场测量则提供一定距离外的辐射场数据，用于评估 LC-RIS 的辐射方向图与方向性。系统整合配套软件与集成方案，适用于无线通信系统（5G 及以后）的信号覆盖与容量增强、雷达与感知系统的波束赋形及隐身技术、卫星通信与物联网设备的天线设计与优化，以及光子器件中的光传播控制等研究方向。