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高精度、易于使用的智能光谱分析仪（OSA），用于分析CWDM和DWDM网。
FTBx-5245/5255不仅提供了实现最高现场效率所需的所有工具，还提升了测试的可靠性、准确性和速度。该设备兼容FTB-1v2Pro、FTB-4Pro、LTB-8和LTB-12平台。
适用于DWDM、CWDM和DWDMoverCWDM网络的光频谱分析仪（OSA）
同厂商产品
WDM 综合测试系统工作波长 1260 至 1620nm，综合测试主机可同时兼容 CWDM、DWDM 等产品测试。宽带光源与光谱分析仪四工位分时复用，一次接线即可执行 OSA 扫描测试（可调光源扫描）与单点 IL、PDL、INRL、OUTRL、DIR 等参数测试。插损不确定度 ±0.05dB（焊接测试）／±0.1dB（连接头测试），PDL 不确定度 ±0.03dB，单次扫描时间 6 至 8s（AQ6370D，步距 0.1nm）。WDM 产品可计算 IL、RIP、ADJ、NADJ、CWL、DCWL，FBT 产品可计算 IL_Min、IL_Max、WDL 等参数。
WDM/FBT 综合测试系统工作波长 1260 至 1620nm，兼容扫描与点测 WDM 器件及 1×2、2×2 Coupler。宽带光源与光谱分析仪四工位分时复用，一次接线即可执行 OSA 扫描测试与单点 IL、PDL、INRL、OUTRL、DIR 等参数测试。插损不确定度 ±0.05dB（光纤熔接测试）／±0.1dB（连接头测试），PDL 不确定度 ±0.03dB，单次扫描时间 6 至 8s。WDM 产品可计算 IL、RIP、ADJ、NADJ、CWL、DCWL，FBT 产品可计算 IL_Min、IL_Max、WDL 等参数，自动判定结果并批量生成出货报表。
无源产品综合测试系统工作波长 1260 至 1620nm，支持定制开发 Coupler、WDM、Isolator、Circulator 等无源产品综合测试系统，兼容扫描测试与点光源测试，支持可调光源、光谱分析仪等设备的多工位共享。一次接线即可执行扫描测试 IL、Rip、ISO以及单点 IL、PDL、INRL、OUTRL、DIR 等参数。插损（IL）不确定度 ±0.05dB（光纤熔接测试）／±0.1dB（连接头测试），PDL 不确定度 ±0.03dB，单通道扫描时间 5s、单点 PDL 纯测时间 1s，自动判定结果并批量生成出货报表。
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CWDM4/LWDM扫描测试系统 1260至1360nm 多工位并行|光泰通信 (在产)
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产品描述
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系统与解决方案
光泰通信 Brightas · 深圳光泰通信设备有限公司
CWDM4/LWDM扫描测试系统
CWDM4/LAN-WDM/AWG 扫描测试 · 多工位并行共享 · 1260 至 1360nm
产品简介
支持Bar条测试，可与自动化耦合握手，耦合对光完成之后自动进行扫描测试。支持不同类型的CWDM4（MUX和DEMUX）以及100G Lan WDM器件的扫描和全3、带宽的PDL测试，参数设置灵活，界面可视化、操作非常简便。
图：测试界面示意图
官方定位：作为光泰通信的光无源器件测试系统产品，CWDM4/LWDM扫描测试系统 面向光通信器件研发、批量生产与测试场景，覆盖光无源器件与光模块的产线检测需求。
核心参数
• 工作波长：1260 至 1360 nm
• 测试指标：IL/RIPPLE/PDL/ADJ/NADJ/CWL/BW/TDL/CROSSTALK
• 插损不确定度：±0.1 dB（连接头测试）
• 测量模式：可调光源 + 高速功率计
• 可测产品类型：CWDM4（MUX/DEMUX）、LAN-WDM、AWG
主要特点
支持Bar条测试，可与自动化耦合握手，耦合对光完成之后自动进行扫描测试。
支持不同类型的CWDM4（MUX和DEMUX）以及100G Lan WDM器件的扫描和全3、带宽的PDL测试，参数设置灵活，界面可视化、操作非常简便。
支持多工位对可调光源进行实时并行共享扫描测试，工位互不干扰，无需排队等待（行业首创，百分百验证并有多家客户成功案例，每个工位扫描时间相同，并且申请了专利）。
自动计算ITU IL、Min IL、Max IL、IL uniformity、Ripple、PDL、通道带宽和中心波长（1dB，3dB等）、Isolation、Slope、Crosstalk等参数。
自动分析计算各种所需的测试参数结果和自动判定测试结果。
失效参数自动区分并标识，使失效数据一目了然。
系统软件兼容各种可调光源（Agilent，santec，uc等）和各种带trigger功能的功率计。
资源下载
• 详细指标：全部技术指标已单独整理，详见 CWDM4/LWDM扫描测试系统 详细指标页
onetest仪器资源库 · 光泰通信 CWDM4/LWDM扫描测试系统
光泰通信 Brightas · 深圳光泰通信设备有限公司
CWDM4/LWDM扫描测试系统 · 详细指标
CWDM4/LAN-WDM/AWG 扫描测试 · 多工位并行共享 · 1260 至 1360nm
产品简介
支持Bar条测试，可与自动化耦合握手，耦合对光完成之后自动进行扫描测试。支持不同类型的CWDM4（MUX和DEMUX）以及100G Lan WDM器件的扫描和全3、带宽的PDL测试，参数设置灵活，界面可视化、操作非常简便。
官方规格表
下表按光泰通信官网 CWDM4/LWDM扫描测试系统 产品页规格表整理；未特别说明均为典型值。
• 工作波长：1260 至 1360 nm
• 测试指标：IL/RIPPLE/PDL/ADJ/NADJ/CWL/BW/TDL/CROSSTALK
• 插损不确定度：±0.1 dB（连接头测试）
• 测量模式：可调光源 + 高速功率计
• 可测产品类型：CWDM4（MUX/DEMUX）、LAN-WDM、AWG
注：以上参数取自光泰通信官网该产品页规格表，完整指标与适用条件以官方资料为准。
资源下载
• 产品介绍：产品定位、核心参数与主要特点详见 CWDM4/LWDM扫描测试系统 产品介绍页
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