ONETEST 欢迎您
厂商登录 | 入驻
登录 | 注册 购物车 微信公众号
客服
厂商登录
类似产品
高精度、易于使用的智能光谱分析仪（OSA），用于分析CWDM和DWDM网。
FTBx-5245/5255不仅提供了实现最高现场效率所需的所有工具，还提升了测试的可靠性、准确性和速度。该设备兼容FTB-1v2Pro、FTB-4Pro、LTB-8和LTB-12平台。
适用于DWDM、CWDM和DWDMoverCWDM网络的光频谱分析仪（OSA）
同厂商产品
WDM/FBT 综合测试系统工作波长 1260 至 1620nm，兼容扫描与点测 WDM 器件及 1×2、2×2 Coupler。宽带光源与光谱分析仪四工位分时复用，一次接线即可执行 OSA 扫描测试与单点 IL、PDL、INRL、OUTRL、DIR 等参数测试。插损不确定度 ±0.05dB（光纤熔接测试）／±0.1dB（连接头测试），PDL 不确定度 ±0.03dB，单次扫描时间 6 至 8s。WDM 产品可计算 IL、RIP、ADJ、NADJ、CWL、DCWL，FBT 产品可计算 IL_Min、IL_Max、WDL 等参数，自动判定结果并批量生成出货报表。
Santec 扫描测试系统由 santec 可调谐光源、santec 偏振控制器与 santec 功率计组成，工作波长 1260 至 1640nm。算法基于 santec 官方算法二次开发，实现多工位测试、数据分析与测报生成等功能。支持 WDM、AWG、PLC、Z-Block 等不同类型光学产品的测试，插损不确定度 ±0.1dB（连接头测试），扫描时间 10s，测试指标覆盖 IL、RIPPLE、PDL、ADJ、NADJ、CWL、BW、TDL、CROSSTALK。
Isolator、Circulator 自动测试系统工作波长 1260 至 1620nm，自动测试并计算 IL、PDL、RLin、RLout、ISO、CT、WDL、TDL 等参数。Circulator 兼容器件、模块与机箱扫描测试，支持高低温测试与升降温自动延时控制；Isolator 支持同时测试 4 个器件，利用高低温等待时间提高产能。插损不确定度 ±0.05dB（光纤熔接测试）／±0.1dB（连接头测试），PDL 不确定度 ±0.03dB，单通道扫描时间 15s，自动判定产品等级并生成出货报表。
- «
- 1
- »
DWDM并行扫描一拖四测试系统 1260至1620nm|光泰通信 (在产)
参考价格 ：
产品描述
详细指标
软件和手册|白皮书
购买渠道
选件
问大家
视频
测评
口碑
系统与解决方案
光泰通信 Brightas · 深圳光泰通信设备有限公司
DWDM并行扫描一拖四测试系统
DWDM/AWG 一拖四并行扫描 · TLS 扫描 + 单功率计点测 · 1260 至 1620nm
产品简介
支持不同类型的DWDM/AWG模块（器件）以及100G Lan WDM器件的扫描和PDL测试，参数设置灵活，界面可视化、操作非常简便。支持多工位对可调光源进行实时并行共享扫描测试，工位之间互不干扰，无需排队等待。
图：测试界面示意图
官方定位：作为光泰通信的光无源器件测试系统产品，DWDM并行扫描一拖四测试系统 面向光通信器件研发、批量生产与测试场景，覆盖光无源器件与光模块的产线检测需求。
核心参数
• 工作波长：1260 至 1620 nm
• 测试指标：ITU IL/Min IL/Max IL/PDL/Ripple/TDL/CWL/Bandwidth/Isolation
• 插损（IL）不确定度：±0.05（光纤熔接测试）；±0.1（连接头测试） dB
• 测量模式：TLS 扫描/单功率计点测
• 单通道扫描时间：6 至 10 s
• 单点 PDL 纯测时间：3 至 5 s
• 可测产品类型：DWDM/AWG、100G LAN-WDM 器件与模块
主要特点
支持不同类型的DWDM/AWG模块（器件）以及100G Lan WDM器件的扫描和PDL测试，参数设置灵活，界面可视化、操作非常简便。
支持多工位对可调光源进行实时并行共享扫描测试，工位之间互不干扰，无需排队等待。
自动计算ITU IL、Min IL、Max IL、IL uniformity、Ripple、PDL、CWL（0.5dB，1dB，3dB等）、中心波长与ITU波长的偏移量，Bandwidth、Isolation、Crosstalk等参数。
自动分析计算各种所需的测试参数结果，自动判定测试结果；所有数量海量保存，自动生成出货报表。
资源下载
• 详细指标：全部技术指标已单独整理，详见 DWDM并行扫描一拖四测试系统 详细指标页
onetest仪器资源库 · 光泰通信 DWDM并行扫描一拖四测试系统
光泰通信 Brightas · 深圳光泰通信设备有限公司
DWDM并行扫描一拖四测试系统 · 详细指标
DWDM/AWG 一拖四并行扫描 · TLS 扫描 + 单功率计点测 · 1260 至 1620nm
产品简介
支持不同类型的DWDM/AWG模块（器件）以及100G Lan WDM器件的扫描和PDL测试，参数设置灵活，界面可视化、操作非常简便。支持多工位对可调光源进行实时并行共享扫描测试，工位之间互不干扰，无需排队等待。
官方规格表
下表按光泰通信官网 DWDM并行扫描一拖四测试系统 产品页规格表整理；未特别说明均为典型值。
• 工作波长：1260 至 1620 nm
• 测试指标：ITU IL/Min IL/Max IL/PDL/Ripple/TDL/CWL/Bandwidth/Isolation
• 插损（IL）不确定度：±0.05（光纤熔接测试）；±0.1（连接头测试） dB
• 测量模式：TLS 扫描/单功率计点测
• 单通道扫描时间：6 至 10 s
• 单点 PDL 纯测时间：3 至 5 s
• 可测产品类型：DWDM/AWG、100G LAN-WDM 器件与模块
注：以上参数取自光泰通信官网该产品页规格表，完整指标与适用条件以官方资料为准。
资源下载
• 产品介绍：产品定位、核心参数与主要特点详见 DWDM并行扫描一拖四测试系统 产品介绍页
onetest仪器资源库 · 光泰通信 DWDM并行扫描一拖四测试系统
全部
光泰通信官方渠道
厂家联系方式
电话：0755-21008209，13925290175
邮箱：Roy.Liu@szbrightas.com
地址：深圳市龙华区大浪街道华荣路496号德泰科技园3栋3楼
网址：http://www.szbrightas.com
0条提问
X
提问
X
回答
暂无视频
0条口碑
X
发表口碑
粤公网安备44030902003758