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M4173 工程型单测机械手 -45℃至125℃|爱德万测试 (在产)

把自动上下料与三温控制带进实验室的便携式单测机械手,ATC 温度范围 -45℃ 至 125℃,支持全球远程操作

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爱德万测试 Advantest · 株式会社爱德万测试(Advantest Corporation)
M4173 工程型单测机械手 -45℃至125℃
便携式单测机械手 · -45℃ 至 125℃ · 远程操作 · 温变时间减少 40% 以上
产品简介
M4173 单测机械手面向特性分析和量产前期准备阶段的高功耗测试需求,将芯片自动上料、下料、分类与温控集成到一个便携式设计中,适用于工程环境。
通过使用安全的内网连接,系统可以从全球任何地点进行远程操作,最大程度提高不同地点工作组之间的设备利用率,并通过减少公司所需的测试机数量节省资金支出和人工成本。
官方定位:便携式单测机械手 · -45℃ 至 125℃ · 远程操作 · 温变时间减少 40% 以上
核心参数
• 温度范围:-45℃ 至 125℃(主动温度控制 ATC)
• 温变效率:相比手动温控方案,温度变换时间可减少 40% 以上
• 形态:便携式设计,适用于工程环境
• 远程能力:安全内网连接,支持全球远程操作
• 可选模块:二维码识别、芯片旋转、高压着力
• 测试模式:多温循环、自动测试、自动 ID 测试、自动重测、手动测试
随时随地管理设备
• 将芯片自动上料、下料和分类带入实验室环境,改进手测装置
• 安全内网连接支持从全球任何地点远程操作
• 提高不同地点工作组之间的设备利用率,节省资金支出与人工成本
实验室的温度控制
• 采用主动温度控制(ATC),温度范围 -45℃ 至 125℃
• 具备通常只有更大型量产机械手才有的三温能力
• 芯片表面直接压着技术快速调整运行温度
高功能性
• 支持多模式测试程序(一次下压实现多温循环测试)
• 自动测试、自动 ID 测试、自动重测与手动测试均可预设或自定义
• 易用、可预设的用户界面
典型应用场景
• 半导体工程实验室特性分析
• 量产前期高功耗芯片测试准备
• IDM 与 OSAT 的小批量多品种验证
• 需要三温测试的实验室场景
资源下载
• 详细指标:全部技术指标已单独整理,详见 M4173 详细指标页
onetest仪器资源库 · 爱德万测试 M4173

 

 

爱德万测试 Advantest · 株式会社爱德万测试(Advantest Corporation)
M4173 · 详细指标
便携式单测机械手 · -45℃ 至 125℃ · 远程操作 · 温变时间减少 40% 以上
产品简介
把自动上下料与三温控制带进实验室的便携式单测机械手,ATC 温度范围 -45℃ 至 125℃,支持全球远程操作。
官方定位:便携式单测机械手 · -45℃ 至 125℃ · 远程操作 · 温变时间减少 40% 以上
核心规格
• 温度范围:-45℃ 至 125℃(主动温度控制 ATC)
• 温变效率:相比手动温控方案,温度变换时间可减少 40% 以上
• 形态:便携式设计,适用于工程环境
• 远程能力:安全内网连接,支持全球远程操作
• 可选模块:二维码识别、芯片旋转、高压着力
• 测试模式:多温循环、自动测试、自动 ID 测试、自动重测、手动测试
随时随地管理设备
• 将芯片自动上料、下料和分类带入实验室环境,改进手测装置
• 安全内网连接支持从全球任何地点远程操作
• 提高不同地点工作组之间的设备利用率,节省资金支出与人工成本
实验室的温度控制
• 采用主动温度控制(ATC),温度范围 -45℃ 至 125℃
• 具备通常只有更大型量产机械手才有的三温能力
• 芯片表面直接压着技术快速调整运行温度
高功能性
• 支持多模式测试程序(一次下压实现多温循环测试)
• 自动测试、自动 ID 测试、自动重测与手动测试均可预设或自定义
• 易用、可预设的用户界面
典型应用场景
• 半导体工程实验室特性分析
• 量产前期高功耗芯片测试准备
• IDM 与 OSAT 的小批量多品种验证
• 需要三温测试的实验室场景
官方产品页指标原文
• M4173机械手采用主动温度控制(ATC),温度范围为-45°C至125°C,通常只有更大型、更昂贵的量产用机械手才具备这种功能。借助爱德万测试的三温技术,M4173可以在广泛的温度范围内运行,大幅提高了实验室的效率。
• 通过芯片表面直接压着技术,机械手可以快速调整运行温度。与手动温控方案相比,温度变换时间可以减少40%以上。
注:以上指标按爱德万测试中国站产品页与其公开手册整理,未特别说明者为厂商标称值;如官网与手册冲突以厂商最新发布为准。
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onetest仪器资源库 · 爱德万测试 M4173 详细指标

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