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IM3523A LCR测试仪。40 Hz至200 kHz 测量时间 : 2 ms。基本精度±0.05%,测量范围广(DC,40Hz~200kHz,5mV~5V,10μA~50mA)。在比如C-D(120 Hz)和ESR(100 kHz)这样的混合测量条件下,整体测量速度提升至约原来的10倍(与旧机型3532 - 50相比)。
CN040 多通道测试。适配高达10MHz的高频继电器。各通道的开短路补偿 + 补偿值保存功能,高效地进行补偿测试。即时保存 + 连续保存,方便进行重复性实验。搭配多路转换器ZC3001支持10通道测量。
CN030 测量数据即时绘图。在测量的同时实时显示数据图表。HIOKI 日置 LCR 测试仪全系列可用。加速电容式传感器、磁场传感器的研究开发。
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CN010 电压偏置测试系统|日置 (在产)

CN010 电压偏置测试系统。半导体器件的直流偏置特性研究,适用于SiC、GaN、MLCC的偏压测试。丰富的选件,覆盖广泛测试需求的硬件系统。整体的性能评价和预先验证,为客户提供可靠准确的测试方案。友好的图表显示界面,即时的数据保存,提高开发效率。

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产品描述
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系统与解决方案

日置 · HIOKI
CN010 电压偏置测试系统
半导体器件的直流偏置特性研究,适用于SiC、GaN、MLCC的偏压测试
产品简介
半导体器件的直流偏置特性研究,适用于SiC、GaN、MLCC的偏压测试。CN010 是 日置 官网 电压偏置测试系统 栏目下的产品。
产品特点
• 丰富的选件,覆盖广泛测试需求的硬件系统
• 整体的性能评价和预先验证,为客户提供可靠准确的测试方案
• 友好的图表显示界面,即时的数据保存,提高开发效率
功能亮点
系统构成

系统构成

图:系统构成

软件界面-列表显示和频率特性

软件界面-列表显示和频率特性

图:软件界面-列表显示和频率特性

核心指标
• 功能:偏置电压扫描测试, 交流电压扫描测试, 频率扫描测试
• 测试項目:Z, Y, θ, X, G, B, Q, Rs, Rp, Ls, Lp, Cs, Cp, D
• 精度系数α (与IM3570的基本精度相乘):量程
• 1kΩ量程以下:1.5
• 10kΩ量程以上:1.5+0.2×fL
• 通信端口:USB, LAN, RS-232C
• 配件清单:USB Key, U盘(软件、使用说明书), DC电压偏置单元(9268-10或特殊品), 电压偏置用电源(CN010-10, CN010-20), 连接线(电源 ‒ 偏置单元之间), USB电缆L1002, 使用说明书
• 支持OS:Windows 10 (64bit), Windows 11
资源下载
• 详细指标请见 CN010 电压偏置测试系统 详细指标页。
注:本页内容与指标整理自日置官网该产品详情页及其官方资料;选配、可选功能以厂家最终配置为准。
日置HIOKI · onetest 仪器资源库

 

 

CN010 电压偏置测试系统 详细指标 | 日置 - onetest仪器资源库

日置 · HIOKI
CN010 电压偏置测试系统
详细指标
产品简介
半导体器件的直流偏置特性研究,适用于SiC、GaN、MLCC的偏压测试。CN010 是 日置 官网 电压偏置测试系统 栏目下的产品。
详细指标
产品参数
• 功能:偏置电压扫描测试, 交流电压扫描测试, 频率扫描测试
开短路补偿, 电源监视, LCR监视
序列测试
充放电延时, xlxs(xls)/png/setting文件保存
• 测试項目:Z, Y, θ, X, G, B, Q, Rs, Rp, Ls, Lp, Cs, Cp, D
• 精度系数α (与IM3570的基本精度相乘):量程
• 1kΩ量程以下:1.5
• 10kΩ量程以上:1.5+0.2×fL
fL: 测试频率[kHz]
• 通信端口:USB, LAN, RS-232C
• 配件清单:USB Key, U盘(软件、使用说明书), DC电压偏置单元(9268-10或特殊品), 电压偏置用电源(CN010-10, CN010-20), 连接线(电源 ‒ 偏置单元之间), USB电缆L1002, 使用说明书
• 支持OS:Windows 10 (64bit), Windows 11
主机参数
• CN010-10:直流电压偏置测试系统
• CN010-11:无配套电源
• CN010-20:-40.00 V~+40.00 V
(0.01 V step)
• CN010-21:无配套电源
选件与型号
适配主机
• LCR测试仪IM3536 测量频率DC,4 Hz〜8 MHz的LCR测试仪
• 阻抗分析仪IM3570 1台仪器实现不同测量条件下的高速检查
测试治具
• 4端子探头L2000 DC~8MHz,1m长
• 测试治具9262 DC~8 MHz, 直接连接型
• SMD测试治具9263 直接连接型, DC~5 MHz 测试尺寸: 1mm~10.0mm
• SMD测试治具IM9100 直接连接型,底部有电极SMD用,DC~8MHz,可测量样品尺寸:0402~1005(JIS)
• SMD测试治具IM9110 直接连接,2端子,DC〜1MHz,可测样品尺寸:0201(JIS)
资源下载
注:本页内容与指标整理自日置官网该产品详情页及其官方资料;选配、可选功能以厂家最终配置为准。
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