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IM7580A 阻抗分析仪。最快0.5ms，高速、高稳定测量，节省空间的半个机架大小。测量频率1MHz~300MHz。测量时间：最快0.5ms（模拟测量时间）。基本精度±0.72%rdg.。测量方式：RF I-V法。
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IM7580A 阻抗分析仪|日置 (在产)
产品描述
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日置 · HIOKI
IM7580A 阻抗分析仪
最快0.5ms，高速、高稳定测量，节省空间的半个机架大小
产品简介
最快0.5ms，高速、高稳定测量，节省空间的半个机架大小。IM7580A 是 日置 官网 阻抗分析仪 栏目下的产品。
产品特点
• 测量频率1MHz~300MHz
• 测量时间：最快0.5ms（模拟测量时间）
• 基本精度±0.72%rdg.
• 测量方式：RF I-V法
• 紧凑主机仅机架一半大小、测试头仅手掌大小
• 丰富的接触检查功能（DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定）
• 使用分析功能在扫描测量频率、测量信号电平的同时进行测量
功能亮点
阻抗分析仪IM7580s：等效电路分析功能
能够以测量结果为基础推测5种等效电路模式的常数。 而且，可以通过模拟功能，使用推测结果或者任意的常数来显示频率特性的理想值。 此外，使用比较器功能，还能够确定测量结果是否在判定区域内。
阻抗分析仪IM7580系列：使用SMD治具IM9201进行LCR测量
IM7580系列5种机型的测量频率覆盖了1MHz〜3GHz。 和用于6种尺寸SMD的测试治具IM9201组合使用，能够简单准确的测量样品。
阻抗分析仪IM7580系列：区域判定功能
分析模式的比较器功能中，可以确定测量值是否进入了任意设置的判定区域内。 “区域判定功能”是设置上限值和下限值的范围，并以IN/NG来显示判定结果。
阻抗分析仪IM7580系列：峰值判定功能
分析模式的比较器功能中，可以确定测量值是否进入了任意设置的判定区域内。 “峰值判定功能”是以上限值、下限值、左限制、右限值来设置范围，并以IN/NG来显示测量的峰值是否在判定区域内。
阻抗分析仪IM7580系列：SPOT判定功能
分析模式的比较器功能中，可以确定测量值是否进入了任意设置的判定区域内。 “SPOT判定功能”是选择任意的扫描点和参数，最多进行16点的判定。
阻抗分析仪IM7580系列：比较器功能
使用比较器功能，可以确定测量值是否进入了任意设置的判定区域内。 适用于判定样品是否合格的功能。
阻抗分析仪IM7580系列：接触检查功能
使用接触检查功能，能够检查样品和测量端口的接触状态，并确认接触不良情况和连接状态。
阻抗分析仪IM7580系列：测试头的连接方法
测试头的连接线连接阻抗分析仪。 稍微弯曲扭力扳手的手柄后拧紧螺母（0.56 N・m）。 请注意不要拧过头。
高速·稳定测量，提高产能
阻抗分析仪IM7580A对应的测量频率是1 MHz~300 MHz。 通过最快0.5ms（模拟测量时间）的高速测量与高重复精度，实现高速、稳定的测量。 缩短工时，提高产能。
图：高速·稳定测量，提高产能
节省空间，操作舒适，小巧机身大画面
两台阻抗分析仪IM7580A可以同时放入一个测试机架中，有效节省空间。 半个测试机架大小的紧凑型机身除了 用于产线，其轻便性还能够适应各种测量环境。 大画面显示，根据使用场合可改变亮度、颜色以及显示尺寸。舒适的触摸屏操作带来舒适的测量体验。
图：节省空间，操作舒适，小巧机身大画面
适用于评估电容器、线圈等被动元件的LCR模式测量
阻抗分析仪IM7580A的LCR模式测量可将任意频率和电平信号施加到需要测量的元件上进行测量。 适用于电容器、线圈等被动元件的评估。 ·比较测量 以1个判定标准为基础对元件的合格与否进行判断。 ·BIN测量 使用多个判定标准对元件进行等级划分。（最多10组）
图：适用于评估电容器、线圈等被动元件的LCR模式测量
适用于确认频率特性或电平特性的分析模式测量
阻抗分析仪IM7580A的分析模式测量可以对测量频率、测量信号电平进行扫描的同时进行测量。 适用于频率特性或电平特性的确认。 ·普通/分段扫描 通过扫描频率、电平来观察元件的特性 ·间隔扫描 固定测试条件下观察元器件在时间变化过程中的特性
图：适用于确认频率特性或电平特性的分析模式测量
保证准确的测量
阻抗分析仪IM7580A为了保证正确且可靠的测量，搭载了多种必备功能。 ·接触检查（接触不良和接触状态的确认） DCR测量功能、Hi-Z筛选功能、波形判定功能 ·补偿功能（为了测量的准确性而进行补偿） 开路/短路/Load补偿、电气长度补偿、开路/短路补偿 ·外部控制输入输出（任意控制外部控制的输出入信号的时机） 其他 锁键功能、蜂鸣音设置、预热功能
图：保证准确的测量
手掌大小的测试头
测试头也采用仅手掌大小的紧凑设计，可设置于被测物的附近。 不易受到干扰影响，可实现更为准确的测量。
图：手掌大小的测试头
通过丰富的接口进行外部控制
阻抗分析仪IM7580A使用LAN/USB/GP-IB/RS-232C /EXT I/O可以进行外部控制。（GP-IB/RS232C为选件）
图：通过丰富的接口进行外部控制
应用
您可以阅读样本应用的下载和通讯命令的使用说明。 阻抗分析仪 应用请点击
精度计算软件
仅需输入数值即可轻松计算精度。 阻抗分析仪精度计算软件请点击
核心指标
• 测量模式：LCR（LCR测量），分析（扫频测量），连续测量
• 测量参数：Z, Y, θ, Rs (ESR), Rp, X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D (tanδ), Q
• 精度保证范围：100 mΩ~5 kΩ
• 显示范围：Z: 0.00m~9.99999 GΩ / Rs, Rp,
X: ± (0.00 m~9.99999 GΩ)
• 基本精度：Z: ±0.72 % rdg. θ: ±0.41°
• 测量频率：1 MHz~300 MHz (100 Hz~10 kHz步进)
• 测量信号电平：功率 (dbm)模式: -40.0 dbm~ +7.0 dbm
• 输出阻抗：50 Ω (10 MHz时)
• 显示：彩色TFT8.4英寸、触屏
• 测量时间：最快0.5ms（FAST、模拟测量时间、代表值）
资源下载
• 详细指标请见 IM7580A 阻抗分析仪 详细指标页。
注：本页内容与指标整理自日置官网该产品详情页及其官方资料；选配、可选功能以厂家最终配置为准。
日置HIOKI · onetest 仪器资源库
日置 · HIOKI
IM7580A 阻抗分析仪
详细指标
产品简介
最快0.5ms，高速、高稳定测量，节省空间的半个机架大小。IM7580A 是 日置 官网 阻抗分析仪 栏目下的产品。
详细指标
基本参数
• 测量模式：LCR（LCR测量），分析（扫频测量），连续测量
• 测量参数：Z, Y, θ, Rs (ESR), Rp, X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D (tanδ), Q
• 精度保证范围：100 mΩ~5 kΩ
• 显示范围：Z: 0.00m~9.99999 GΩ / Rs, Rp,
X: ± (0.00 m~9.99999 GΩ)
Ls,
Lp: ± (0.00000 n~9.99999 GH) /
Q: ± (0.00~9999.99)
θ: ± (0.000°~999.999°), Cs,
Cp: ± (0.00000 p~9.99999 GF)
D: ± (0.00000~9.99999), Y: (0.000 n~9.99999 GS)
G,
B: ± (0.000 n~9.99999 GS), Δ%: ± (0.000 %~999.999 %)
• 基本精度：Z: ±0.72 % rdg. θ: ±0.41°
• 测量频率：1 MHz~300 MHz (100 Hz~10 kHz步进)
• 测量信号电平：功率 (dbm)模式: -40.0 dbm~ +7.0 dbm
电压 (V)模式: 4 mV~1001 mVrms
电流 ( I )模式: 0.09 mA~20.02mArms
• 输出阻抗：50 Ω (10 MHz时)
• 显示：彩色TFT8.4英寸、触屏
• 测量时间：最快0.5ms（FAST、模拟测量时间、代表值）
• 功能：接触检查、比较器、BIN判定（分类功能）、面板读取·保存、存储功能、等效电路分析、相关补偿
• 接口：EXT I/O (处理器), USB通讯, U盘, LAN
RS-232C (选件), GP-IB (选件)
• 电源：AC 100~240 V, 50/60 Hz, 70 VA max
• 体积和重量：主机: 215W × 200H × 268D mm, 6.5 kg
测试头: 61W × 55H × 24D mm, 175 g
• 附件：测试头 ×1, 连接线 ×1, 使用说明书 ×1
选件与型号
测试治具
• 测试夹具台IM9200 标配放大镜
• SMD测试夹具IM9201 高频测量3GHz，对应6尺寸的SMD
• 适配器(3.5mm-7mm)IM9906 3.5mm(公头)-7mm转换
• 校准套件IM9905 OPEN/SHORT/LOAD的套装
• 测试夹具 IM9202 高频测量600MHz
PC通讯
• GP-IB连接线9151-02 2m长
• RS-232C 连接线 9637 9pin-9pin，1.8m长
• GP-IB接口Z3000 外部控制用
• RS-232接口Z3001 外部控制用
替换部件
• 支撑脚Z7052
• 支撑脚Z7053
• 连接器Z7054
资源下载
注：本页内容与指标整理自日置官网该产品详情页及其官方资料；选配、可选功能以厂家最终配置为准。
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分支机构
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