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插回损测试仪是高精度、宽量程的光器件检测设备。采用智能化微处理器控制，内含高稳定性光源和高精度功率计模块。光功率计采用新的数据采集技术，具有更大的信噪比和更大的动态范围。在小信号时，内部电路采用小电阻加屏蔽技术，因此具有更高的灵敏度，功率测量范围+5～-75dBm。
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插回损仪 1310/1550nm 回损至70dB|Zewda众望达 (在产)
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Zewda众望达
插回损仪
插回损测试仪（高稳定光源 + 高精度光功率计）
产品简介
插回损测试仪是高精度、宽量程的光器件检测设备。采用智能化微处理器控制，内含高稳定性光源和高精度功率计模块。光功率计采用新的数据采集技术，具有更大的信噪比和更大的动态范围。在小信号时，内部电路采用小电阻加屏蔽技术，因此具有更高的灵敏度，功率测量范围+5～-75dBm。内置光源模块关键器件是采用同轴或蝶形DFB激光器，以保证高性能的光谱效率和功率稳定性。该设备广泛应用于光纤光缆、和光无源器件和光纤通信系统的插损和回损测试，是广大生产厂商、科研机构和运营商用于生产检测、研究开发和工程施工维护的基本和理想的测试仪器。
1310/1550(可选650/850/1300)
主要参数
• 光源波长：1310/1550(可选650/850/1300) nm
• 光源输出端口功率（PO）：-3 dBm
• 光源功率稳定性(15分钟)（PO_15m）：±0.01 / ±0.03 dB
• 光源功率稳定性(8小时)（PO_8h）：±0.03 / ±0.05 dB
• 功率计探测器大小：2 mm
• 探测范围（850）：-65 / 5 dBm
• 980/1060：-70 / 5 dBm
• 其它：-75 / 5 dBm
以上为部分主要参数，完整指标请见详细指标页。
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• 官网产品页
详细指标请见 插回损仪 详细指标页。
Zewda众望达
插回损仪
详细指标
产品简介
插回损测试仪是高精度、宽量程的光器件检测设备。采用智能化微处理器控制，内含高稳定性光源和高精度功率计模块。光功率计采用新的数据采集技术，具有更大的信噪比和更大的动态范围。在小信号时，内部电路采用小电阻加屏蔽技术，因此具有更高的灵敏度，功率测量范围+5～-75dBm。内置光源模块关键器件是采用同轴或蝶形DFB激光器，以保证高性能的光谱效率和功率稳定性。该设备广泛应用于光纤光缆、和光无源器件和光纤通信系统的插损和回损测试，是广大生产厂商、科研机构和运营商用于生产检测、研究开发和工程施工维护的基本和理想的测试仪器。
详细指标
技术指标
• 光源波长：1310/1550(可选650/850/1300) nm
• 光源输出端口功率（PO）：-3 dBm
• 光源功率稳定性(15分钟)（PO_15m）：±0.01 / ±0.03 dB
• 光源功率稳定性(8小时)（PO_8h）：±0.03 / ±0.05 dB
• 功率计探测器大小：2 mm
• 探测范围（850）：-65 / 5 dBm
• 980/1060：-70 / 5 dBm
• 其它：-75 / 5 dBm
• 回损测试范围（850nm）：60 dB
• 其它波长：70 dB
• 功率计测试波长：850 / 1700 nm
• 功率计测量不确定度：±3 %
• 回损测试波长：1310/1550 nm
• 回损分辨率：0.1 dB
• 回损测试精度：±0.5 dB
• 屏幕刷新速度（T）：100 / 500 ms
• 工作电压（V）：110 / 240 VAC/50Hz
• 功耗（Pc）：30 W
• 工作温度（TW）：15 / 35 C
• 储藏温度（TS）：-5 / 40 C
• 通讯接口：RS232
• 外观尺寸：300*270*140mm
※ 说明
· 以上指标依据 Zewda众望达 官网产品页公布的参数表整理。
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Zewda众望达官方渠道
厂家联系方式
公司：深圳市众望达光电有限公司
地址：广东省深圳市宝安区石岩街道松白路北大科创园A9栋1楼
热线电话：0755-86196560
王小姐：13818184618
张先生：13923732392
企业邮箱：sales@zewda.com
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